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製品一覧

ME機器
赤外分光分析装置POConePlus
ディスクリート方式臨床化学自動分析装置 ヘモテクト NS-Prime
蛍光イムノクロマトリーダー DiaScan α
血球細胞除去用装置 Adamonitor SC
分析機器
ゼータ電位・粒子径・分子量測定システム ELSZneo
ゼータ電位・粒径・分子量測定システム ELSZ-2000ZS
ゼータ電位測定システム ELSZ-2000Z
粒径・分子量測定システム ELSZ-2000S
多検体ナノ粒子径測定システム nanoSAQLA(オートサンプラ AS50 付き)
多検体ナノ粒子径測定システム nanoSAQLA
高分子相構造解析システム PP-1000
ダイナミック光散乱光度計 DLS-8000series
ダイナミック光散乱光度計 DLS-6500series
スタティック光散乱光度計 SLS-6500HL
ファイバー光学動的光散乱光度計 FDLS-3000
高感度示差屈折計 DRM-3000
キャピラリ電気泳動システム Agilent 7100
計測機器
顕微分光膜厚計 OPTM series
非接触光学厚み計 Emios
ラインスキャン膜厚計【インラインタイプ】
ラインスキャン膜厚計【オフラインタイプ】
膜厚モニター FE-300
組込み型膜厚モニター
マルチチャンネル分光器 MCPD-9800/6800
分光エリプソメータ FE-5000/5000S
分光干渉式ウェーハ厚み計 SF-3
高感度分光放射輝度計 HS-1000
全光束測定システム HM/FM series
分光配光測定システム GP series
分光放射照度測定システム
量子効率測定システム QE-2000/2100
リタデーション測定装置 RETS-100nx
高速LED光学特性モニター LE series
カラーフィルタ分光特性測定装置 LCF series
セルギャップ検査装置 RETS series
LCD評価装置(パネル・モジュール検査) LCD series
膜厚測定システム FE-3700/5700
高速リタデーション測定装置 RE-200
高感度NIR量子効率測定システム QE-5000
透過率・吸光度測定用途マルチチャンネル分光器 MCPD series
反射率測定用途マルチチャンネル分光器 MCPD series
発光・蛍光測定用途マルチチャンネル分光器 MCPD series
色測定用途マルチチャンネル分光器 MCPD series
膜厚測定用途マルチチャンネル分光器 MCPD series
単粒子蛍光診断システム
量子ドット評価システム
ロードポート対応膜厚測定システム GS-300
超高速分光干渉式厚み計
紫外分光全放射束測定システム
紫外分光配光測定システム
紫外分光放射照度測定システム
紫外分光放射輝度計

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