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光源照明評価機器

配光測定装置

分光配光測定システム GP series

照明器具の配光特性を測定する装置です。

室内照明から投光器まで幅広い照明器具を取り扱え、
マルチパーパスな要求に応える装置です。

全光束測定装置

全光束測定システム HM/FM series

LEDから照明まで幅広い光源の全光束を測定します。

長年の実績から全光束測定のどんなシーンにも対応し、要求に合わせた測定システムをサポートします。

UV測定装置

紫外分光全放射束測定システム

紫外LEDの放射束を評価します。

殺菌、浄化、樹脂硬化と期待されるUV-LEDの
光学特性評価をサポートします。

紫外分光配光測定システム

紫外LEDの配光特性を評価します。

サンプルの配光を評価することで、
殺菌や樹脂硬化用光源の照射ムラを可視化します。

紫外分光放射照度測定システム New

光源の紫外域での放射照度を評価します。

分光放射照度による測定で紫外域でも高精度な
測定を実現することができる装置です。

紫外分光放射輝度計

光源の紫外域での放射輝度を評価します。

紫外の輝度測定ができる限られた装置です。

照度測定装置

分光放射照度測定システム

光源による照度を評価します。

高性能な分光光度計を検出器に使い、紫外~可視~赤外と幅広い波長範囲で照度測定を可能とする装置です。

分光光度計

マルチチャンネル分光器 MCPD-9800/6800

紫外から近赤外領域対応の多機能マルチチャンネル分光検出器です。最短5msで分光スペクトル測定ができます。標準装置のオプティカルファイバーにより、サンプル種を特定することなく、さまざまな測定系に対応可能です。顕微分光、光源発光、透過・反射測定をはじめ、ソフトウェアとの組み合わせにより、物体色評価、膜厚測定などにも対応可能です。

分光放射輝度計

高感度分光放射輝度計 HS-1000

超低輝度から高輝度まで高速・高精度な測定が可能な分光放射輝度計です。
電子冷却型リニアアレイセンサを用い、大塚電子独自の分光光学設計および信号処理回路により広い輝度範囲と波長域にわたって、低ノイズで高精度な測定を実現しました。

組み込み型色度計

高速LED光学特性モニター LE series

LEDの光学特性評価を、生産ラインの制御信号と同期させインラインで高速におこなうことができる装置です。
LE-5400は、NG判定や級別分類など品質管理に必要な光学特性情報を提供します。

蛍光評価装置

量子効率測定システム QE-2100

瞬時に絶対量子効率(絶対量子収率)の測定ができます。粉体、溶液、固体(フィルム)、薄膜試料に対応しています。低迷光マルチチャンネル分光検出器により、紫外域での迷光を大きく低減しました。また積分半球ユニットの採用により、明るい光学系を実現すると共に、その利点を生かした再励起蛍光補正により、精度の高い測定を行うことができます。さらに量子効率の温度依存性測定や紫外~近赤外の広い波長範囲にも対応が可能です。

発光・蛍光測定用途マルチチャンネル分光器 MCPD series

紫外から近赤外領域対応の多機能マルチチャンネル分光検出器です。最短5msで分光スペクトル測定ができます。標準装置のオプティカルファイバーにより、サンプル種を特定することなく、さまざまな測定系に対応可能です。顕微分光、光源発光、透過・反射測定をはじめ、ソフトウェアとの組み合わせにより、物体色評価、膜厚測定などにも対応可能です。

単粒子蛍光診断システム

NIMSと共同開発した単粒子診断法*に基づいた測定が可能です。

 

* 国立研究開発法人 物質・材料研究機構
 広崎尚登フェロー、武田隆史研究員との共同研究

 

量子ドット評価システム

量子ドット材料は粒子径により発光波長が変わるという特性があるといわれています。
本システムでは粒子径および分散安定性の評価とともに蛍光特性の評価が可能です。

高感度NIR量子効率測定システム QE-5000 New

一重項酸素(活性酸素)を検出可能

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