ホーム > 動画ライブラリ

動画ライブラリ

ピックアップ動画
  • Coming Soon ELSZneo

    COMING SOON

  • ロードポート対応膜厚測定システム GS-300

    半導体製造設備から検査設備まで搬送の手間を省いたワンスルーのスタイルを提案します。

  • ラインスキャン膜厚計

    フィルムの膜厚を全幅・全長測定できる『ラインスキャン膜厚計』の紹介動画です。

  • ゼータ電位測定の原理

    ゼータ電位を用いた測定技術について原理を中心にご紹介いたします。

  • 小角光散乱技術とは…?

    小角光散乱を用いた測定技術について原理を中心にご紹介いたします。

  • 多検体ナノ粒子径測定システムnanoSAQLA

    動的光散乱法(DLS法)による粒子径測定装置(粒度分布計)の紹介動画です。

Webセミナー

  • 全光束測定システム積分半球について

    全光束測定システム積分半球についてをご紹介します。

  • フィルムのゼータ電位測定

    包装用や機能性フィルムなどの評価をゼータ電位測定を用いてご紹介します。

  • 色材のゼータ電位測定

    濃厚な色材の評価や最適な分散剤評価、染料の吸着状態の評価についてゼータ電位測定を用いてご紹介します。

  • タンパク質のゼータ電位測定

    ゼータ電位を用いてタンパク質の吸着を評価する方法を測定例を含めてご紹介します。

  • ゼータ電位測定の原理

    ゼータ電位を用いた測定技術について原理を中心にご紹介いたします。

  • 相関長のアプリケーションについて

    相関長の説明から測定する方法、実際の測定例を示しながら管理する必要性についてお話しします。

  • 球晶のアプリケーションについて

    球晶径の説明から測定する方法、実際の測定例を示しながら管理する必要性についてお話しします。

  • 小角光散乱技術とは…?

    小角光散乱を用いた測定技術について原理を中心にご紹介いたします。

製品紹介

  • Coming Soon ELSZneo

    COMING SOON

  • ロードポート対応膜厚測定システム GS-300

    半導体製造設備から検査設備まで搬送の手間を省いたワンスルーのスタイルを提案します。

  • ラインスキャン膜厚計

    フィルムの膜厚を全幅・全長測定できる『ラインスキャン膜厚計』の紹介動画です。

  • 大塚電子製品紹介

    独自の「光」技術を用いて、大塚電子にしか出来ない画期的な新製品を作り出しています。

  • 非接触光学厚み計

    サンプルをセットするだけで即結果がわかる“1ステップオペレーション”

  • 多検体ナノ粒子径測定システムnanoSAQLA

    動的光散乱法(DLS法)による粒子径測定装置(粒度分布計)の紹介動画です。

ページトップへ