膜厚計・厚み計
反射分光膜厚計
顕微分光膜厚計 OPTM series 
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顕微分光を用いた微小領域での絶対反射率測定により、高精度な膜厚・光学定数解析が可能な装置です。 |
| 反射分光膜厚計 FE-3000 | |
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顕微を用いた微小領域での絶対反射率の取得により、高精度な光干渉法による膜厚解析が可能な装置です。 |
| 膜厚モニター FE-300 | |
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高精度な光干渉法による膜厚測定を簡単操作で実現した小型で低価格な膜厚計です。 |
| 組込み型膜厚モニター | |
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波長依存性を有する多層膜測定を高精度に実現！ |
| 膜厚測定用途マルチチャンネル分光器 MCPD series | |
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紫外から近赤外領域対応の多機能マルチチャンネル分光検出器です。最短5msで分光スペクトル測定ができます。標準装置のオプティカルファイバーにより、サンプル種を特定することなく、さまざまな測定系に対応可能です。顕微分光、光源発光、透過・反射測定をはじめ、ソフトウェアとの組み合わせにより、物体色評価、膜厚測定などにも対応可能です。 |
分光エリプソメータ
| 分光エリプソメータ FE-5000/5000S | |
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高精度な薄膜解析が可能な分光エリプソメトリーに加え、測定角度の自動可変機構を実装させることにより、あらゆる種類の薄膜にも対応しております。従来の回転検光子法に加え、位相差版の自動脱着機構を設けることにより、測定精度を向上させました。 |
ウェーハ厚みセンサー
| 分光干渉式ウェーハ厚み計 SF-3 | |
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ウェーハ等の研削研磨プロセスを非接触でウェーハや樹脂の超高速リアルタイム・高精度 に測定 |
ウェーハオートマッピング
| インテグレーション対応ウェーハマッピングシステム | |
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パターンマッチ機能搭載、X-Y位置決め精度２um以下のシステムです。 |
| ウェーハ厚みマッピングシステム SF-3AA | |
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パターンマッチ機能搭載でX-Y位置決め精度２um以下のシステムです。 |
| 高速ウェーハ厚みマッピングシステム SF-3Rθ | |
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最大12inchウェーハを高速にマッピング可能です。 |
厚膜用厚みセンサー
| 超高速分光干渉式厚み計 | |
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ウェーハ等の研削研磨プロセスを非接触でウェーハや樹脂の超高速リアルタイム・高精度 に測定します。 |
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