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ラインスキャン膜厚計 NEW

インラインでのフィルム生産現場においてフィルムの膜厚を全幅・全長測定できる装置です。
独自の分光干渉法に新たに開発した高精度膜厚演算処理技術を組み合わせることで、最短0.01秒毎の測定間隔で500mm幅(1台使用時)のフィルムの膜厚測定が可能です。

製品情報

特 長
  • ラインスキャン方式の採用で「抜け」のない全幅・全長フィルム検査を実現
  • ハード・ソフト共にオリジナル設計
  • 膜厚測定の専門メーカーだからできる充実サポート
  • 高精度に測定が可能(特許取得)
  • 高速に測定が可能
  • バタつきに強い
  • 幅広のサンプル(TD方向に最大10m測定可能)

 

フィルムの幅に合わせて検出器を増設可能(MAX10m)
500mmの膜厚データを瞬時に解析し全幅測定を可能に

 

仕様

測定項目 膜厚(FFT)
位置分解能 1mm
測定幅 500mm
波長範囲 400 ~ 920nm
1素子当たりの波長幅 約 0.6nm
膜厚測定範囲 2 ~ 250μm
測定間隔 10msec ~

 

測定例

500mm幅の包装用フィルムの場合

1ライン分の測定画像から1ポイントの分光スペクトルを取り出し、分光スペクトルをFFT解析

 

解析結果例:ソフト画面
 

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