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| Agilent7100 |
| ELSZ |
| Agilent7100 |
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| ELSZneo |
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浄化膜の膜厚 OPTM |
| ELSZ |
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腐植物質のゼータ電位測定 ELSZ |
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| Agilent7100 |
| Agilent7100 |
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一重項酸素による阻害要因の評価 QE |
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吸収率の評価 MCPD |
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電力制御用半導体の膜厚［絶縁膜・保護膜（SiO2 SiN）］ SF OPTM |
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| ELSZneo |
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セパレータフィルムの目付量測定（吸光度からの換算） MCPD |
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カーボンナノチューブの可溶化・分散 ELSZ |
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電解質膜の膜厚 OPTM |
| ELSZ |
| ELSZ nanoSAQLA |
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プラズマCVDプロセスにおける発光スペクトルの評価 MCPD |
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太陽電池モジュールの分光反射率・分光透過率 MCPD |
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変換効率の評価 QE |
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太陽電池材料の膜厚評価 OPTM |
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EVAフィルムのリタデーション測定 RETS |
| QE |
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近赤外の発光評価 QE |
| ELSZ |
| QE ELSZ |
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発電用タービンなどのセラミック素材の凝集・分散最適化 ELSZ |
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