Closeフィルムの全面厚み測定
大塚電子の膜厚測定システムは非接触で高速測定が可能なため、
フィルムを搬送しながら測定し、厚みの管理が可能です。
ラインスキャン方式の採用で「抜け」のない全幅・全長フィルム検査を実現します。
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ベースフィルム/製膜 -
コーティング/成膜
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