ホーム > 活用例 > フィルム製造工程 > フィルムの構造解析 「相関長」や「球晶径」の測定

フィルムの構造解析 「相関長」や「球晶径」の測定

Hv散乱とVv散乱

フィルムに光を照射し、散乱パターンを解析することで、フィルムの構造解析が可能です。
構造により強度や透明性が異なるので、成膜の条件検討に使用されます。
製品の透明性や脆さに関係する球晶径、耐熱性や衝撃強度に関係する相関長を
評価することができます。
 

  • 博士

  • ベースフィルム/製膜
    ベースフィルム/製膜
  • コーティング/成膜
    コーティング/成膜

関連製品

高分子相構造解析システム PP-1000

ページトップへ

X LinkdIn Youtube

大塚電子公式 SNS