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ラインスキャン膜厚計によるインライン膜厚計測

2.ラインスキャン膜厚計の概要

フィルムの品質管理において、膜厚は重要な評価項目の一つです。しかし、ロール・ツー・ロールによるフィルム製造工程中の測定において、従来のポイントタイプの測定方式では膜厚を「点」で測定するため、基準値から外れた検査値が出たときは不良箇所を正確に特定できず周辺部分を大幅に切断および廃棄することになり、時間的、経済的ロスが発生します。さらに、異常箇所を測定できずに不良品を出荷してしまうと膨大な調査、回収コストが発生するというリスクがあります。
これらのロス、リスクを防止したいというお客様の要求に対して、当社はフィルム全面の膜厚を測定して可視化することができる「ラインスキャン膜厚計」を開発しました。(第1図)

第1図 ラインスキャン膜厚計の外観
第1図 ラインスキャン膜厚計の外観


さらに、新たに開発した高速演算処理技術により、最短0.01秒での測定サイクルを実現し、高速のフィルム搬送速度にも対応します。

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