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リタデーション測定装置 RETS-100NX NEW

OLED用偏光板、積層位相差フィルム、IPS液晶位相差フィルム付偏光板など、あらゆるフィルムに対応したリタデーション測定装置です。
超高Re.60000nmに対応の高速・高精度測定を実現。
フィルムの積層状態を“剥がさず、非破壊”で測定可能です。
さらに、操作面でもかんたんソフトウェアや、サンプルの置き直しによるズレに対応した補正機能を搭載し、手軽に高精度な測定ができます。

製品情報

特 長
独自の分光器だからできる高精度測定

■ 高精度


 多波長測定により高精度を実現

短波長では測定し辛いλ/4、λ/2などの結果を近似値で求めることができる。膜厚干渉波形の影響を受けずに結果が出せる。
  <高精度な理由>
   ・独自の高性能マルチチャンネル分光器を使用
   ・透過率の情報を多く得ることができるため、高精度な測定が可能
    (得られる透過率の情報が約500波長と、他社製品と比較して約50倍)

 


■ 幅広い測定範囲 (リタデーション範囲:0 ~ 60000nm)

同強度でも他波長データから演算可能

 


■ リタデーション波長分散形状がわかる

逆分散サンプルも測定できる

 

超高リタデーション測定 -超複屈折フィルムを高速・高精度に測定できる-

■ 高リタデーション
こんなに高いリタデーションでも、独自のアルゴリズムでパラメータなしで解析できる
超高Re.60000nm対応

 

多層測定 -剥がさず、非破壊でさまざまなフィルムの積層状態を測定できる-

剥がす必要なし、そのまま測ることが出来る

 

軸角度補正機能 -サンプル設置がズレていても手軽に再現性良く測れる-

■ サンプルを10回置き直して、結果を角度補正なし・ありで比較
  【 サンプル:位相差フィルムR85 】

補正なし:置き直しによるバラつき:0.13、補正あり:置き直しによるバラつき:0.013以下

 

かんたんソフトウェア -測定時間と処理時間が大幅短縮。操作性大幅UP-

かんたんソフトウェア

仕様

仕 様
 型式  リタデーション測定装置 RETS-100NX
 測定項目(フィルム、光学材料)  リタデーション(波長分散)、遅相軸、Rth*1、3次元屈折率*1など
 測定項目(偏光板)  吸収軸、偏光度、消光比、各種色度、各種透過率など
 測定項目(液晶セル)  セルギャップ、プレチルト角*1、ツイスト角、配光角など
 リタデーション測定範囲  0 ~ 60,000nm
 リタデーション繰り返し性  3σ≦0.08nm (水晶波長板 約600nm)
 セルギャップ測定範囲  0 ~ 600μm (Δn=0.1の場合)
 セルギャップ繰り返し性  3σ≦0.005μm (セルギャップ約3μm、Δn=0.1の場合)
 軸検出繰り返し性  3σ≦0.08° (水晶波長板 約600nm)
 測定波長範囲  400 ~ 800nm (他選択可能)
 検出器  マルチチャンネル分光器
 測定径  φ2mm (標準仕様)
 光源  100W ハロゲンランプ
 データ処理部  パーソナルコンピュータ、モニター
 ステージサイズ:標準  100mm × 100mm (固定ステージ)
 オプション  ・超高リタデーション測定
 ・多層測定
 ・軸角度補正機能
 ・自動XYステージ
 ・自動傾斜回転ステージ

*1 自動傾斜回転ステージが必要です(オプション)

光学系

特 長
固定ステージ 【 Option:軸角度補正機能 】

固定ステージ

 

自動傾斜回転ステージ 【 Option 】

自動傾斜回転ステージ

 

自動XYステージ 【 Option 】

自動XYステージ

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