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リタデーション測定装置 RETS-100nx
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OLED用偏光板、積層位相差フィルム、IPS液晶位相差フィルム付偏光板など、あらゆるフィルムに対応したリタデーション測定装置です。 |
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- 製品情報
- 仕様
- 光学系
製品情報
特 長
独自の分光器だからできる高精度測定
■ 高精度
多波長測定により高精度を実現
＜高精度な理由＞
・独自の高性能マルチチャンネル分光器を使用
・透過率の情報を多く得ることができるため、高精度な測定が可能
（得られる透過率の情報が約500波長と、他社製品と比較して約50倍）
■ 幅広い測定範囲 （リタデーション範囲：0 ～ 60000nm）
■ リタデーション波長分散形状がわかる
超高リタデーション測定 -超複屈折フィルムを高速・高精度に測定できる-
■ 高リタデーション
多層測定 -剥がさず、非破壊でさまざまなフィルムの積層状態を測定できる-
軸角度補正機能 -サンプル設置がズレていても手軽に再現性良く測れる-
■ サンプルを10回置き直して、結果を角度補正なし・ありで比較
【 サンプル：位相差フィルムR85 】
かんたんソフトウェア -測定時間と処理時間が大幅短縮。操作性大幅UP-
仕様
仕 様
| 型式 | リタデーション測定装置 RETS-100nx |
| 測定項目（フィルム、光学材料） | リタデーション（波長分散）、遅相軸、Rth*1、3次元屈折率*1など |
| 測定項目（偏光板） | 吸収軸、偏光度、消光比、各種色度、各種透過率など |
| 測定項目（液晶セル） | セルギャップ、プレチルト角*1、ツイスト角、配向角など |
| リタデーション測定範囲 | 0 ～ 60,000nm |
| リタデーション繰り返し性 | 3σ≦0.08nm （水晶波長板 約600nm） |
| セルギャップ測定範囲 | 0 ～ 600μm （Δn=0.1の場合） |
| セルギャップ繰り返し性 | 3σ≦0.005μm （セルギャップ約3μm、Δn=0.1の場合） |
| 軸検出繰り返し性 | 3σ≦0.08° （水晶波長板 約600nm） |
| 測定波長範囲 | 400 ～ 800nm （他選択可能） |
| 検出器 | マルチチャンネル分光器 |
| 測定径 | φ2mm （標準仕様） |
| 光源 | 100W ハロゲンランプ |
| データ処理部 | パーソナルコンピュータ、モニター |
| ステージサイズ：標準 | 100mm × 100mm （固定ステージ） |
| オプション | ・超高リタデーション測定 ・多層測定 ・軸角度補正機能 ・自動XYステージ ・自動傾斜回転ステージ |
*1 自動傾斜回転ステージが必要です（オプション）
光学系
特 長
固定ステージ 【 Option：軸角度補正機能 】
自動傾斜回転ステージ 【 Option 】
自動XYステージ 【 Option 】
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- 仕様
- 光学系
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