光学設計のための配光測定
ファーフィールド/ニアフィールド

製品情報

ME機器

ME機器

分析機器

ゼータ電位測定

粒径・粒度分布測定

分子量

示差屈折

キャピラリー電気泳動

計測機器

分光関連機器

膜厚計・厚み計

インプロセス用評価機器

機能材料評価機器

フィルム評価機器

半導体評価機器

光源照明評価機器

FPD関連評価機器

サポート

• 定期点検、校正について
• 修理・移設について
• 医療機器業許可取得
  および医療機器の
  製造販売承認申請の支援
• よくある質問（FAQ）
• 取扱説明・技術サポートについて
• マニュアル入手方法に
  ついて
• 部品・消耗品購入に
  ついて
• サポートメニュー
  資料ダウンロードに
  ついて
• メンテナンス資料に
  ついて
• 生産終了・保守終了製品リストについて
• 製品の特定について
• JCSS校正サービスに
  ついて
• 該非判定・EAR判定
  一覧表
• サイバーセキュリティ対応について
• 製品購入後お問い合わせ

大塚電子について

• 会社概要
• 企業理念
• 社長あいさつ
• 事業内容
• 拠点一覧
• アクセス
• 品質方針
• 環境への取り組み
• 健康宣言
• 採用情報
• 動画集
• What's大塚電子

お問い合わせ

• 製品に関するお問い合わせ
• 製品購入後お問い合わせ
• サポートデスク