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第14回高機能フィルム展[大阪] - FILMTECH JAPAN -
2026年5月13日（水）～15日（金）まで、インテックス大阪で「第14回高機能フィルム展[大阪] - FILMTECH JAPAN - 」が開催されます。
大塚電子のブースでは「光波動場三次元顕微鏡 MINUK」をはじめ、「ラインスキャン膜厚計®」、「スマート膜厚計」などフィルム関連の測定装置を展示致します。
各種資料を取り揃えて、皆様のご来場をお待ちしております。
| ● 名 称 | |
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| ● 会 期 | 2026年5月13日（水）～15日（金） 10:00～17:00 |
| ● 会 場 | |
| ● 主 催 | |
| ● 入 場 | 入場登録が必要（無料） |
| ● 特 典 | 出展社招待特典：500円分ランチ引換券 |
出展ブース 2号館 小間No.K15-24
透明体の傷や異物を可視化・定量化
光波動場三次元顕微鏡
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・nｍオーダーの透明な異物・欠陥の評価が可能 ・1ショットで瞬時に深さ方向の情報を取得 ・フォーカス不要で高速測定が可能 ・非破壊・非接触・非侵襲で測定が可能 |
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分光干渉式を採用 フィルムの全面検査を実現
ラインスキャン膜厚計®【インラインタイプ】
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膜厚：0.1μm ～ 300μm（膜厚値はn=1.5のフイルム換算） ・「抜け」のない全面フィルム検査を実現 ・バタつきに強い光学系を採用 ・高速・高精度に測定が可能
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微小エリアで多層フィルムを高精度に測る機能搭載
顕微分光膜厚計
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膜厚：1nm ～ 92μm（膜厚値はSiO2換算） ・顕微分光で高精度な絶対反射率測定 ・1ポイント1秒以内の高速測定 ・屈折率・消衰係数も解析可能 ・300㎜ステージ対応可能 |
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高精度で持ち運び可能な膜厚計
スマート膜厚計
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膜厚：0.1～ 100μm（サンプル屈折率が1.6の場合） ・持ち運び可能なハンディタイプ ・最薄0.1 μｍまで検量線不要で高精度測定・簡単測定可能 ・3層までの多層膜を測定可能 ・非破壊・非接触によりサンプルを傷つけることもなく測定可能
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あらゆるフィルムに対応した高精度リタデーション測定
リタデーション測定装置
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リタデーション：0 ～ 60,000nm ・超複屈折フィルムを高速・高精度に測定 ・多層を剥がさず非破壊で測定 ・軸角度補正機能によりサンプルのズレなし ・かんたんソフトウェアにより操作性ＵＰ
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