ホーム > 展示会・セミナー > 第14回 フィルムテック ジャパン(高機能フィルム展)

第14回 フィルムテック ジャパン(高機能フィルム展)

2023年10月4日(水)から6日(金)まで、幕張メッセで「第14回 フィルムテック ジャパン(高機能フィルム展)」が開催されます。
大塚電子のブースでは新製品の「光波動場三次元顕微鏡」をはじめ、「ラインスキャン膜厚計」などフィルム関連の測定装置を展示致します。
各種資料を取り揃えて、皆様のご来場をお待ちしております。

● 名  称

第14回 フィルムテック ジャパン(高機能フィルム展

● 会  期

2023年10月4日(水)~6日(金) 10:00~18:00 (最終日17:00)

● 会  場

幕張メッセ

● 主  催

RXジャパン株式会社

● 入  場

招待券が必要
 (招待券はこちらからお申込みください

出展ブース 2ホール 11-37

出展ブース 2ホール11-37

真実を見抜く。未来をはかる。

光波動場三次元顕微鏡

光波動場三次元顕微鏡
  • nmオーダーの透明な異物・欠陥の評価が可能
  • 1ショットで瞬時に深さ方向の情報を取得
  • フォーカス不要で高速測定が可能
  • 非破壊・非接触・非侵襲で測定が可能
  • 任意の面を高速でスキャンし測定位置の決定が容易

分光干渉式を採用 フィルムの全面検査を実現

ラインスキャン膜厚計【インラインタイプ】

ラインスキャン膜厚計【インラインタイプ】

膜厚:0.1μm ~ 300μm

分光干渉式を採用 フィルムの全面検査を実現

インラインフィルム測定システム

インラインフィルム測定システム
  • プロセス中の薄膜高速測定に最適
  • 最短露光時間1ms~ ※仕様による
  • リモート測定に対応
  • 膜厚測定範囲65nm~92μm(SiO2換算)

フィルムのコーティング膜 膜厚を高速・高精度測定

顕微分光膜厚計 OPTM series

顕微分光膜厚計 OPTM series

膜厚:1nm ~ 92μm

・透明基盤において裏面処理不要
・薄膜でも高精度な光学定数
・測定ポイントの位置決めが簡単
・多層膜でも解析できる

非接触・非破壊、高速1ポイント1秒

あらゆるフィルムに対応した高精度リタデーション測定

リタデーション測定装置

リタデーション測定装置

リタデーション:0 ~ 60,000nm

・超高リタデーション測定
  超複屈折フィルムを高速・高精度に測定できる
・多層測定
  剥がさず非接触で様々なフィルムの積層状態を測定できる

 

 

結晶性フィルムなどの構造変化をリアルタイム評価

高分子相構造解析システム PP-1000

高分子相構造解析システム PP-1000

球晶径:1.3μm ~ 270μm

結晶性フィルムの評価
 ・結晶化温度
 ・結晶化速度
 ・光学異方性
 ・球晶径
 ・配光

ページトップへ

X LinkdIn Youtube

大塚電子公式 SNS