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JASIS 2022

無事終了いたしました。多数のご参加を頂き、誠にありがとうございました。

2022年9月7日（水）から9日（金）まで、幕張メッセで「JASIS 2022」が開催されます。
大塚電子では、ゼータ電位・粒子径・分子量測定システム「ELSZneo」をはじめ各種分析装置を展示いたします。

ぜひ弊社ブースにて実機をお近くでご覧ください。
皆様のご来場をお待ちしております。

●名　称	JASIS 2022
●会　期	2022年9月7日（水）～9日（金） 10:00～17:00
●会　場	幕張メッセ国際展示場　出展ブース「6ホール 6A-801」
●入場料	無料（事前入場登録をご利用ください）
● 主　　催	一般社団法人日本分析機器工業会一般社団法人日本科学機器協会

出展ブース「6ホール 6A-801」

■出展製品

光散乱による物性評価は新たなステージへ

	ELSZseriesの最上位機種で希薄溶液～濃厚溶液でのゼータ電位･粒子径測定に加え、分子量測定を可能にした装置です。さらに新しい機能として粒度分布の分離能を向上させるため多角度測定を採用、粒子濃度測定やマイクロレオロジー測定、ゲルの網目構造解析も可能にしました。

ELSZseriesの最上位機種で希薄溶液～濃厚溶液でのゼータ電位･粒子径測定に加え、分子量測定を可能にした装置です。さらに新しい機能として粒度分布の分離能を向上させるため多角度測定を採用、粒子濃度測定やマイクロレオロジー測定、ゲルの網目構造解析も可能にしました。

粒子径＋ゼータ電位で分散・凝集状態がわかる

粒子径+ゼータ電位で分散・凝集状態がわかる

	ナノ粒子の分散・凝集・相互作用、表面改質の指標となるゼータ電位および粒子径・粒子径分布、分子量を測定することが可能です。またpＨに対する粒子径・ゼータ電位変化を自動で測定することが可能です。

ナノ粒子の分散・凝集・相互作用、表面改質の指標となるゼータ電位および粒子径・粒子径分布、分子量を測定することが可能です。またpＨに対する粒子径・ゼータ電位変化を自動で測定することが可能です。

粒子径＋ゼータ電位で分散・凝集状態がわかる

粒子径をコンタミレスで最大50検体連続測定が可能

	品質管理のニーズを更に追求した機能を搭載した動的光散乱法による粒子径測定装置（0.6nm～10μm）です。希薄系から濃厚系(0.00001～40%)までの広濃度範囲に対応しています。

品質管理のニーズを更に追求した機能を搭載した動的光散乱法による粒子径測定装置（0.6nm～10μm）です。希薄系から濃厚系(0.00001～40%)までの広濃度範囲に対応しています。

高分子やフィルムの構造変化をリアルタイムに解析

	小角光散乱法を用いて、高分子やフィルムの構造をリアルタイムに解析できる装置です。可視光を使用している為、X線や中性子線を用いた装置と比べて、より大きな構造(μmオーダー)の評価が可能です。

小角光散乱法を用いて、高分子やフィルムの構造をリアルタイムに解析できる装置です。可視光を使用している為、X線や中性子線を用いた装置と比べて、より大きな構造(μmオーダー)の評価が可能です。

無機イオン、有機酸、金属イオンなど異なる成分を1台で測定

	陰イオン、陽イオン、有機酸、糖などを一斉分析できます。また、簡単な前処理だけで微量・短時間・高分解能な分析が可能です。

陰イオン、陽イオン、有機酸、糖などを一斉分析できます。
また、簡単な前処理だけで微量・短時間・高分解能な分析が可能です。

1回で多成分を手軽に分離分析できる

エリプソメータに匹敵する高性能な膜厚計

	半導体材料やフィルム、光学材料などの基材から多層コート膜の厚みを非破壊・非接触で高速に測定します。３μmの微小領域測定が可能で、絶対反射率、光学定数測定も可能です。また光学定数解析が可能な楽々解析ウィザードを搭載しています。

半導体材料やフィルム、光学材料などの基材から多層コート膜の厚みを非破壊・非接触で高速に測定します。３μmの微小領域測定が可能で、絶対反射率、光学定数測定も可能です。また光学定数解析が可能な楽々解析ウィザードを搭載しています。