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技術セミナー in 名古屋

光を用いた各種分析装置を開発してきました大塚電子が、先端技術をサポートする分析装置と、その測定技術、応用例などについてセミナーを名古屋にて開催いたします。セミナーは5つのテーマをご用意しております。ご希望のセミナーのみのご参加も可能です。
ぜひ、ご参加ください。

●名称

技術セミナーin名古屋

●日時

2019年6月5日(水) 11:00~17:30 (受付10:30~)

●会場

TKP名古屋栄カンファレンスセンター
 B2階 カンファレンスルーム4

●参加費

無料

●担当者

中道・後藤
(TEL:052-269-8477 / FAX:052-269-8478)

技術セミナープログラム

【受付開始】10:30

【Seminar1】11:00~12:00

キャピラリー電気泳動の基礎とアプリケーションのご紹介

キャピラリ電気泳動システム Agilent 7100

キャピラリ電気泳動システム

シンプルな前処理で高分離能・高精度な定量分析が可能なCEの原理や特徴とめっき液から食品分野までの幅広いアプリケーションをご紹介致します。

【Seminar2】13:00~13:50

粒子径、ゼータ電位、平板表面電位測定の基礎とアプリケーション、および高分子相構造解析システムのご紹介

多検体ナノ粒子径測定システム nanoSAQLA

多検体ナノ粒子径測定システム

ナノ粒子の分散・凝集・相互作用、表面改質の指標となるゼータ電位および粒子径の測定技術と製品ラインアップ、最新のアプリケーションをご紹介致します。

【Seminar3】13:50~14:30

高分子(球晶、相構造)の評価に有用な小角光散乱装置の基礎とアプリケーションのご紹介

高分子相構造解析システム PP-1000

高分子相構造解析システム

サブミクロン~マイクロオーダーの球晶やポリマーブレンド等の相構造・異方性を手軽に評価、また、連続的な測定による結晶化、相分離、凝集等のプロセスをリアルタイムに評価できる技術と製品をご紹介致します。

【Seminar4】14:45~15:25

新製品の高速ニアフィールド配光測定装置による光源および光学材料評価アプリケーションのご紹介

高速ニアフィールド配光測定システム RH50

高速ニアフィールド配光測定システム

「光線を捉える・紫外から近赤外を測る」をテーマにニアフィールド配光測定システムや分光放射束測定システム、分光配光測定システムなどの製品とそのアプリケーションをご紹介致します。

【Seminar5】15:30~16:50

反射分光膜厚計の基礎と製品ラインアップ、および不透明膜を対象とした非接触光学膜み計のご紹介

非接触光学厚み計

非接触光学厚み計

コーティング膜、多層膜、フィルム、半導体などの膜厚を非接触・非破壊・高速で測定可能な光学干渉式膜厚計の原理とアプリケーションをご紹介いたします。
大塚電子ではnm~mmの幅広い膜厚に対応した機種をラインナップしております。

【技術相談室】11:00~17:30

キャピラリー電気泳動、粒子径、ゼータ電位、膜厚のご質問・お悩みに個別でお応えいたします。

個別に各30分程度のご相談に応じさせて頂きます。
※人数制限、時間制限が御座いますので、ご希望の方は、お申込みフォームの「技術相談室」にチェックを入れ、
 お申し込みフォーム下部にある技術相談室欄にあるテキストボックスにその内容のご記入をお願い致します。
 後日、弊社担当者よりお時間のご連絡をさせて頂きます。

実機を使用した粒子径、ゼータ電位、膜厚測定の分析相談をおこないます。
 ● 多検体ナノ粒子径測定システム nanoSAQLA
 ● ゼータ電位・粒径・分子量測定システム ELSZ-2000series
 ● 顕微分光膜厚計 OPTM series
 ● 非接触光学厚み計