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技術セミナー in 四日市

光を用いた各種分析装置を開発してきました大塚電子が、先端技術をサポートする分析装置と、その測定技術、応用例などについてセミナーを四日市にて開催いたします。セミナーは3つのテーマをご用意しております。ご希望のセミナーのみのご参加も可能です。
ぜひ、ご参加ください。

●名称

技術セミナー in 四日市

●日時

2018年7月5日(木) 13:00~16:30 (受付12:30~)

●会場

公益財団法人三重北勢地域地場産業振興センター
 研修室2・3

●参加費

無料

●担当者

中道
(TEL:06-6910-6522 / FAX:06-6910-6528)

【受付開始】12:30

Theme1 :自動車関連部材の評価技術
 【評価例】車載半導体、ディスプレイ、CMS、フイルム、ヘッドランプ、電池、LiDAR、コイル、
      部材上DLC、オイル、ゴム など

【Seminar1】13:00~13:45

光を利用した分析技術で新素材及び最先端部材(材料)の評価提案

顕微分光膜厚計 OPTM series

顕微分光膜厚計

GP-7 SF-3 MCPD
高速ニアフィールド
配光測定システム
GP-7 series
  分光干渉式ウェーハ厚み計
SF-3
  マルチチャンネル分光器
MCPD-9800/6800

 

Theme2 :電池/半導体の材料評価への足がかり
 【評価例】電極、セパレータ、電解液などの材料、ウェーハ、EUVレジスト、研磨粒子など

【Seminar2】13:50~14:35

分散性の評価 光散乱法による粒子径、ゼータ電位測定

ゼータ電位・粒径・分子量測定システム ELSZ-2000ZS

ゼータ電位・粒径・分子量測定システム

新製品である「多検体ナノ粒子径測定システム nanoSAQLA」のご紹介と、
粒径測定に関する原理と併せて、ゼータ電位に関してもご紹介します。
 粒径・ゼータ電位は、分散・凝集のメカニズム解明に重要なパラメータです。
希薄溶液から従来では測定困難であった濃厚溶液まで幅広い濃度範囲で測定が
可能です。その原理やアプリケーションについてご紹介します。

【Seminar3】14:40~15:25

厚み評価 光学式による非接触厚み測定

非接触光学厚み計

非接触光学厚み計

近年の機能性材料の開発競争において、薄膜の膜厚測定がますます重要となってきています。
膜厚測定に有用な非破壊非接触かつ高精度高速測定を実現する反射分光法の基本的な測定原理をご説明し、次世代の膜厚測定ニーズに対応するために新規開発したラインスキャン膜厚計、非接触厚み計についてご紹介します

【技術相談室】15:40~16:30

粒子径、ゼータ電位、膜厚のご質問・お悩みに個別でお応えいたします。

個別に各30分程度のご相談に応じさせて頂きます。
 粒子物性関連:多検体ナノ粒子径測定システム
 膜厚関連:非接触光学厚み計


※人数制限、時間制限が御座いますので、ご希望の方は、お申込みフォームの「技術相談室」にチェックを入れ、
 お申し込みフォーム下部にある技術相談室欄にあるテキストボックスにその内容のご記入をお願い致します。
 後日、弊社担当者よりお時間のご連絡をさせて頂きます。

【デモンストレーション】15:40~16:30

実機を使用した粒子径、ゼータ電位、膜厚測定のデモンストレーションをおこないます。

多検体ナノ粒子径測定システム nanoSAQLA
非接触光学厚み計