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nanotech 2023
無事終了いたしました。 多数のご参加を頂き、誠にありがとうございました。
2023年2月1日（水）から3日（金）まで、東京ビッグサイトで「nanotech 2023」が開催されます。
大塚電子では2021年6月に上市いたしました「ELSZneoシリーズ」をはじめとする機器や
ELSZneoシリーズの最新機種のご案内も予定しております。
ぜひ弊社ブースにて実機をお近くでご覧ください。
皆様のご来場をお待ちしております。
| ●名 称 | |
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| ●会 期 | 2023年2月1日（水）～3日（金） 10:00～17:00 |
| ●会 場 | 東京ビッグサイト |
| ●入場料 | 無料 （事前入場登録をご利用ください） |
| ● 主 催 |
出展ブース「東2ホール 2U-24」
■出展製品
粒子径・ゼータ電位で物性評価の新たなステージへ
● ゼータ電位・粒子径・分子量測定システム ELSZneo
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ELSZseriesの最上位機種で希薄溶液～濃厚溶液でのゼータ電位･粒子径測定に加え、分子量測定を可能にした装置です。さらに新しい機能として粒度分布の分離能を向上させるため多角度測定を採用、粒子濃度測定やマイクロレオロジー測定、ゲルの網目構造解析も可能にしました。
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ELSZneoシリーズの最新機種のご案内も予定しております。 |
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ナノ粒子を5検体連続で測定可能
● 多検体ナノ粒子径測定システム nanoSAQLA
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品質管理のニーズを更に追求した機能を搭載した動的光散乱法による粒子径測定装置（0.6nm～10μm）です。希薄系から濃厚系(0.00001～40%)までの広濃度範囲に対応しています。
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結晶化温度・速度・球晶径をリアルタイムで評価
● 高分子相構造解析システム PP-1000
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小角光散乱法を用いて、高分子やフィルムの構造をリアルタイムに解析できる装置です。可視光を使用している為、X線や中性子線を用いた装置と比べて、より大きな構造(μmオーダー)の評価が可能です。
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非破壊・非接触・顕微で高速・高精度に薄膜を計測
● 顕微分光膜厚計 OPTM series
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半導体材料やフィルム、光学材料などの基材から多層コート膜の厚みを非破壊・非接触で高速に測定します。３μmの微小領域測定が可能で、絶対反射率、光学定数測定も可能です。また光学定数解析が可能な楽々解析ウィザードを搭載しています。
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