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技術セミナー in 東京

無事終了いたしました。 多数のご来場を頂き、誠にありがとうございました。

光を用いた各種分析装置を開発してきました大塚電子が、先端技術をサポートする分析装置と、その測定技術、応用例などについてセミナーを東京にて開催いたします。セミナーは4つのテーマをご用意しております。ご希望のセミナーのみのご参加も可能です。
ぜひ、ご参加ください。

●名称

技術セミナーin東京

●日時

2019年7月19日(金) 11:00~16:30 (受付10:30~)

●会場

サンシャインシティ 文化会館
 セミナー会場:701号室、機器展示・相談室:702号室 (会議室の案内はこちら

●参加費

無料

●担当者

田中
(TEL:042-644-4951 / FAX:042-644-4961)

技術セミナープログラム

【受付開始】10:30

【Seminar1】11:00~12:00

キャピラリー電気泳動測定の原理と最新アプリケーションのご紹介

キャピラリ電気泳動システム Agilent 7100

キャピラリ電気泳動システム

キャピラリー電気泳動法は、高い分解能と分析の迅速さに加え、サンプル量や泳動液消費量が最小限で済む優れた分離分析法です。
液体クロマトグラフィーやイオンクロマトグラフィーのような高価なカラムを使用せず、陽イオン、陰イオン、有機酸、金属イオン、アミノ酸、糖、タンパクなど幅広い成分を1台の装置で分析が可能です。
その原理やアプリケーションについてご紹介します。

【Seminar2】13:00~14:15

粒子径、ゼータ電位、平板表面電位測定の原理とアプリケーション、および高分子相構造解析システムのご紹介

多検体ナノ粒子径測定システム nanoSAQLA

多検体ナノ粒子径測定システム

粒子径・ゼータ電位は、分散・凝集のメカニズム解明に重要なパラメータです。希薄溶液から従来では測定困難であった濃厚溶液まで幅広い濃度範囲で測定が可能です。
また、フィルムや基板などの平板の表面電位測定が可能で、表面処理や汚れ具合の数値化を行うことも可能です。
その原理やアプリケーションについてご紹介します。
粒子径測定の新製品である「多検体ナノ粒子径測定システム nanoSAQLA」や、フィルム中の球晶径や相関長の評価が可能な新製品である「高分子相構造解析システム PP-1000」もご紹介します。

【Seminar3】14:30~15:15

新製品の高速ニアフィールド配光測定装置による光源および光学材料評価アプリケーションのご紹介

高速ニアフィールド配光測定システム RH50

高速ニアフィールド配光測定システム

LED光源や、レーザー製品、赤外製品等に使用される小さいサイズの光源の開発においては、光源サンプルを「点」ではなく「面」でとらえ配光特性を検出する「ニアフィールド測定」が必要です。
この度、微小光源の配光特性(強度・角度・出射位置等)を“高速”かつ“手軽に”測定する超小型の「高速ニアフィールド配光測定システム(型式:RH50)」を開発いたしました。
本セミナーでは大塚電子だからこそできる評価項目をはじめとしたRH50の概要、各種光源から光学素子(DOE等)やフィルム等の評価アプリケーションについてご紹介いたします。

【Seminar4】15:30~16:30

反射分光膜厚計の基礎と製品ラインアップ、および不透明膜を対象とした非接触光学膜み計のご紹介

非接触光学厚み計

非接触光学厚み計

近年の機能性材料の開発競争において、薄膜の膜厚測定がますます重要となってきています。
膜厚測定に有用な非破壊非接触かつ高精度高速測定を実現する反射分光法の基本的な測定原理をご説明し、次世代の膜厚測定ニーズに対応するために新規開発したラインスキャン膜厚計、非接触厚み計についてご紹介します。

【技術相談室】10:30~17:00

キャピラリー電気泳動、粒子径、ゼータ電位、膜厚のご質問・お悩みに個別でお応えいたします。

個別に各30分程度のご相談に応じさせて頂きます。
※人数制限、時間制限が御座いますので、ご希望の方は、お申込みフォームの「技術相談室」にチェックを入れ、
 お申し込みフォーム下部にある技術相談室欄にあるテキストボックスにその内容のご記入をお願い致します。
 後日、弊社担当者よりお時間のご連絡をさせて頂きます。

【デモンストレーション】10:30~17:00

実機を使用した粒子径、ゼータ電位、膜厚測定のデモンストレーションをおこないます。

多検体ナノ粒子径測定システム nanoSAQLA
ゼータ電位・粒径・分子量測定システム ELSZ-2000series
顕微分光膜厚計 OPTM series
非接触光学厚み計