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技術セミナー in 大阪

無事終了いたしました。 多数のご来場を頂き、誠にありがとうございました。

光を用いた各種分析装置を開発してきました大塚電子が、先端技術をサポートする分析装置と、その測定技術、応用例などについてセミナーを大阪にて開催いたします。セミナーは5つのテーマをご用意しております。ご希望のセミナーのみのご参加も可能です。
ぜひ、ご参加ください。

●名称

技術セミナーin大阪

●日時

2019年6月12日(水) 13:00~17:50 (受付12:30~)

●会場

アットビジネスセンター PREMIUM 新大阪(正面口駅前)
 新大阪(正面口駅前) 901・902室

●参加費

無料

●担当者

巽・正木
(TEL:06-6910-6522 / FAX:06-6910-6528)

技術セミナープログラム

【受付開始】12:30

【Seminar1】13:00~13:55

キャピラリー電気泳動測定の原理と最新アプリケーションのご紹介

キャピラリ電気泳動システム Agilent 7100

キャピラリ電気泳動システム

非常に簡便な前処理で分離分析が行えるCEの原理と工業・半導体・食品業界向けアプリケーションをご紹介します。

【Seminar2】14:00~15:00

粒子径、ゼータ電位、平板表面電位測定の原理とアプリケーションと新製品nanoSAQLAのご紹介

多検体ナノ粒子径測定システム nanoSAQLA

多検体ナノ粒子径測定システム

ナノ粒子からナノファイバーまで凝集分散評価だけでなく、フィルム等の固体表面電荷測定評価についてもご紹介します。

【Seminar3】15:05~15:45

小角光散乱技術による高分子(球晶、相構造等)の評価に有用な高分子相構造解析システムのご紹介

高分子相構造解析システム PP-1000

高分子相構造解析システム

小角光散乱測定技術の原理から、ミクロンオーダー高分子フィルム等の相構造解析の応用アプリケーションをご紹介します。

【Seminar4】15:50~16:50

反射分光膜厚計の基礎と製品ラインアップ及び不透明膜を対象とした非接触光学厚み計のご紹介

非接触光学厚み計

非接触光学厚み計

分光干渉法を用いた膜厚及び反射率、屈折率、消衰係数等の光学評評価の基礎とフイルム関連等の応用製品ラインナップをご紹介します。

【Seminar5】16:55~17:35

新製品の高速ニアフィールド配光測定装置による光源および光学材料評価アプリケーションのご紹介

高速ニアフィールド配光測定システム RH50

高速ニアフィールド配光測定システム

LED光源や、レーザー製品、赤外製品等に使用される小さいサイズの光源の開発においては、光源サンプルを「点」ではなく「面」でとらえ配光特性を検出する「ニアフィールド測定」が必要です。
この度、微小光源の配光特性(強度・角度・出射位置等)を“高速”かつ“手軽に”測定する超小型の「高速ニアフィールド配光測定システム(型式:RH50)」を開発いたしました。
本セミナーでは大塚電子だからこそできる評価項目をはじめとしたRH50の概要、各種光源から光学素子(DOE等)やフィルム等の評価アプリケーションについてご紹介いたします。

【技術相談室】12:30~17:50

キャピラリー電気泳動、粒子径、ゼータ電位、膜厚のご質問・お悩みに個別でお応えいたします。

個別に各30分程度のご相談に応じさせて頂きます。
※人数制限、時間制限が御座いますので、ご希望の方は、お申込みフォームの「技術相談室」にチェックを入れ、
 お申し込みフォーム下部にある技術相談室欄にあるテキストボックスにその内容のご記入をお願い致します。
 後日、弊社担当者よりお時間のご連絡をさせて頂きます。

実機を使用した粒子径、ゼータ電位、膜厚測定の分析相談をおこないます。
 ● 多検体ナノ粒子径測定システム nanoSAQLA
 ● ゼータ電位・粒径・分子量測定システム ELSZ-2000series
 ● 顕微分光膜厚計 OPTM series
 ● 非接触光学厚み計