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JASIS 2018

無事終了いたしました。 多数のご来場を頂き、誠にありがとうございました。

2018年9月5日(水)から7日(金)まで、幕張メッセで「JASIS 2018」が開催されます。
大塚電子では、「大塚電子だからできる"光散乱/光計測"技術のご提案」をテーマに下記の装置を展示・紹介いたします。
ぜひ弊社ブースにて実機をお近くでご覧ください。各種資料を取り揃えて、皆様のご来場をお待ちしております。

また、新技術説明会(セミナー)もおこないます。(詳細は下記をご覧ください)
お気軽にご参加ください。

●名  称

JASIS 2018

●会  期

2018年9月5日(水)~7日(金) 10:00~17:00

●会  場

幕張メッセ国際展示場
 出展ブース「8ホール 8A-202」、「8ホール 8A-302」

●入場料

無料
 ただし、HPから事前登録が必要です。 
  事前登録はこちらのページからお申し込みください。

● 主  催

一般社団法人日本分析機器工業会
一般社団法人 日本科学機器協会

出展ブース「8ホール 8A-202」、「8ホール 8A-302」

出展ブース「8ホール 8A-202」、「8ホール 8A-302」

■ 出展製品

【粒子物性】最大50検体連続測定が可能

● 多検体ナノ粒子径測定システム + Auto-Sampler
● 多検体ナノ粒子径測定システム + Auto-Sampler

動的光散乱法、品質管理に最適、標準規格に準拠

 

【膜厚】不透明、粗面、変形しやすいサンプルを非接触で測れる

● 非接触光学厚み計
非接触光学厚み計

不透明・粗面・変形しやすいサンプルを非接触で測れる

 

【粒子物性】粒子径+ゼータ電位で分散・凝集状態がわかる

● ゼータ電位・粒径・分子量測定システム ELSZ-2000 series+pHイトレータシステム
● ゼータ電位・粒径・分子量測定システム ELSZ-2000 series+pHイトレータシステム

ナノ粒子の分散・凝集・相互作用、表面改質の指標となるゼータ電位および粒子径・粒子径分布、分子量を測定することが可能です。そして新たに“簡単測定モード”が搭載されました。

粒子径+ゼータ電位で分散・凝集状態がわかる

 

【粒子物性】結晶化温度・速度・球晶径をリアルタイムで評価

● 高分子相構造解析システム PP-1000
● 高分子相構造解析システム PP-1000

高分子材料のスピノーダル分解過程の相転移温度や相関長評価、機能性フィルムの内部構造評価、結晶性高分子の結晶化評価をリアルタイムで定量化可能です。

結晶化温度・速度・球晶径をリアルタイムで評価

 

【成分分析】1回で多成分を手軽に分離分析できる

● キャピラリ電気泳動システム Agilent 7100
● キャピラリ電気泳動システム Agilent 7100

陰イオン、陽イオン、有機酸、アミノ酸、糖などの異なる物性のイオンを一斉に分析できます。試料の調製が簡単かつ微量で短時間・高分解能な分析が可能です。

1回で多成分を手軽に分離分析できる

 

【膜質評価】エリプソメータに匹敵の高性能

● 顕微分光膜厚計 OPTM series
● 顕微分光膜厚計 OPTM series

半導体材料やフイルム、光学材料などの基材から多層コート膜の厚みを非破壊・非接触で高速に測定します。3μmの微小領域測定が可能で、絶対反射率、光学定数測定も測定できます。簡単に解析できる楽々解析ウイザードを搭載しています。

エリプソメータに匹敵の高性能

 

新技術説明会

併催の「新技術説明会」では以下の内容でセミナーをおこないます。 ぜひご聴講ください。

●テ ー マ 新製品・多検体ナノ粒子径測定システム nanoSAQLAのご紹介
●要  旨 新製品・多検体ナノ粒子径測定システム”nanoSAQLA”の特徴についてご紹介する。本装置は、研究から品質管理まで幅広い用途への適用が可能である。装置の適用例についてもご紹介する。
●対象製品 多検体ナノ粒子測定システム nanoSAQLA + Auto-Sampler
●日  時 2018年9月5日(水) 12:35~13:25
●会  場 A-5

 

●テ ー マ 高分子(球晶、相構造)の評価に有用な、小角光散乱装置の紹介
●要  旨 サブミクロン~マイクロオーダーの球晶やポリマーブレンド等の相構造・異方性を手軽に評価、また、連続的な測定による結晶化、相分離、凝集等のプロセスをリアルタイムに評価できる技術と製品をご紹介する。
●対象製品 高分子相構造解析システム PP-1000
●日  時 2018年9月6日(木) 14:55~15:45
●会  場 A-1