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分析機器	ゼータ電位粒子径・粒子径分布分子量示差屈折率キャピラリー電気泳動球晶径・相関長
計測機器	分光関連機器膜厚計・厚み計インプロセス用評価機器機能材料評価機器フィルム評価機器半導体評価機器光源照明評価機器 FPD関連評価機器

技術セミナー in 新潟

無事終了いたしました。多数のご参加を頂き、誠にありがとうございました。

光を用いた各種分析装置を開発してきました大塚電子が、先端技術をサポートする分析装置と、その測定技術、応用例などについてセミナーを新潟にて開催いたします。セミナーは5つのテーマをご用意しております。ご希望のセミナーのみのご参加も可能です。
ぜひ、ご参加ください。

技術セミナープログラム

【受付開始】10：30　　　　　　　　

キャピラリー電気泳動装置の原理とアプリケーションのご紹介

キャピラリ電気泳動システム	キャピラリー電気泳動装置は、シンプルな前処理のため短時間で分析ができ、環境にやさしく・省コストな分離分析装置です。陽・陰・金属イオンや有機酸、脂肪酸、タンパク、糖類などの成分が1台の装置で測定できます。各業界のアプリケーションをご紹介します。

粒子径、ゼータ電位の原理とアプリケーションのご紹介

ゼータ電位・粒径・分子量測定システム	粒子径・ゼータ電位は、コロイド粒子・エマルジョンなどの分散・凝集・表面改質・相互作用において重要なパラメーターです。フィルム・ウェーハなどの平板状試料の表面電荷の評価は、表面改質やコロイド粒子との相互作用の研究に活用されています。各業界のアプリケーションをご紹介します。

ゼータ電位・粒径・分子量測定システム

粒子径・ゼータ電位は、コロイド粒子・エマルジョンなどの分散・凝集・表面改質・相互作用において重要なパラメーターです。フィルム・ウェーハなどの平板状試料の表面電荷の評価は、表面改質やコロイド粒子との相互作用の研究に活用されています。各業界のアプリケーションをご紹介します。

新製品顕微分光膜厚計OPTMシリーズのご紹介

顕微分光膜厚計	新製品の顕微分光膜厚計OPTMシリーズは、非接触・非破壊で膜厚、膜質（屈折率、消衰係数）の評価が可能です。1nm～薄膜の膜厚測定が可能です。新製品の説明を中心に、厚膜対応のSF-3など各種膜厚計のご紹介と膜厚測定のアプリケーションをご紹介します。

インライン分光測定技術のご紹介

ラインスキャン膜厚計	膜厚、透過率、反射率、リタデーション測定など大塚電子が手掛けてきた分光測定技術をはじめとし、開発中のラインスキャン膜厚計も踏まえたインライン測定技術についてご紹介します。

光源・照明、光学材料の評価装置のご紹介

高速ニアフィールド配光測定システム	新製品GP-7はニアフィールド配光測定の高速化を実現しました。新製品の説明を中心に、光源・照明の全光束・配光、光学材料の測定アプリケーションをご紹介します。