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第3回九州半導体産業展
2026年9月30日（水）から10月1日（金）まで、マリンメッセ福岡で「第3回九州半導体産業展」が開催されます。
大塚電子のブースでは、ウェーハの研削研磨プロセスによる厚みを超高速・高精度に測定可能な「分光干渉式ウェーハ厚み計 SF-3R」をはじめ、高精度で持ち運び可能な膜厚計「スマート膜厚計 SM-100series」など測定装置を展示致します。
各種資料を取り揃えて、皆様のご来場をお待ちしております。
| ● 名 称 | |
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| ● 会 期 | 2026年9月30日（水）～10月1日（金） 10:00～17:00 |
| ● 会 場 | マリンメッセ福岡 |
| ● 主 催 | ［九州］半導体産業展 実行委員会 |
| ● 来場登録 | 事前にこちらから登録してください |
ウェーハの研削研磨プロセスによる厚みを超高速・高精度に測定
分光干渉式ウェーハ厚み計 SF-3R
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ウェーハ等の研削研磨プロセスにおいて、非接触でウェーハや樹脂の厚みを超高速・高精度に測定を行います。
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高精度で持ち運び可能な膜厚計
スマート膜厚計 SM-100 series
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ハンディタイプで現場に直接持ち込め、誰でも簡単に高精度の測定が可能です。さらに、形状があるサンプルでも非破壊で測定できます。
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