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技術セミナー in 東京

無事終了いたしました。 多数のご来場を頂き、誠にありがとうございました。

光を用いた各種分析装置を開発してきました大塚電子が、先端技術をサポートする分析装置と、その測定技術、応用例などについてセミナーを東京にて開催いたします。セミナーは3つのテーマをご用意しております。ご希望のセミナーのみのご参加も可能です。
ぜひ、ご参加ください。

●名称

技術セミナー in 東京

●日時

2018年7月18日(水) 13:00~16:45 (受付12:30~)

●会場

サンシャインシティ
 文化会館7F 会議室701会議室

●参加費

無料

●担当者

吉江・佐藤
(TEL:042-644-4951 / FAX:042-644-4961)

技術セミナープログラム

【受付開始】12:30

【Seminar1】13:00~14:00

キャピラリー電気泳動測定の原理と最新アプリケーションのご紹介

キャピラリ電気泳動システム Agilent 7100

キャピラリ電気泳動システム

キャピラリー電気泳動法は、高い分解能と分析の迅速さに加え、サンプル量や泳動液消費量が最小限で済む優れた分離分析法です。高価なカラムを使用せず、陽イオン、陰イオン、有機酸、金属イオン、アミノ酸、糖、タンパクなど幅広い成分を1台の装置で分析が可能です。その原理やアプリケーションについてご紹介します。

【Seminar2】14:15~15:30

新製品nanoSAQLAのご紹介と、粒子径・ゼータ電位測定の原理とアプリケーションのご紹介

多検体ナノ粒子径測定システム nanoSAQLA

多検体ナノ粒子径測定システム

新製品である「多検体ナノ粒子径測定システム nanoSAQLA」のご紹介と、粒径測定に関する原理と併せて、ゼータ電位に関してもご紹介します。
粒径・ゼータ電位は、分散・凝集のメカニズム解明に重要なパラメータです。希薄溶液から従来では測定困難であった濃厚溶液まで幅広い濃度範囲で測定が可能です。
その原理やアプリケーションについてご紹介します。

【Seminar3】15:45~16:45

反射分光膜厚計の基礎と次世代の応用製品のご紹介

非接触光学厚み計

非接触光学厚み計

近年の機能性材料の開発競争において、薄膜の膜厚測定がますます重要となってきています。
膜厚測定に有用な非破壊非接触かつ高精度高速測定を実現する反射分光法の基本的な測定原理をご説明し、次世代の膜厚測定ニーズに対応するために新規開発したラインスキャン膜厚計、非接触厚み計についてご紹介します。

【技術相談室】12:30~17:15

キャピラリー電気泳動、粒子径、ゼータ電位、膜厚のご質問・お悩みに個別でお応えいたします。

個別に各30分程度のご相談に応じさせて頂きます。
※人数制限、時間制限が御座いますので、ご希望の方は、お申込みフォームの「技術相談室」にチェックを入れ、
 お申し込みフォーム下部にある技術相談室欄にあるテキストボックスにその内容のご記入をお願い致します。
 後日、弊社担当者よりお時間のご連絡をさせて頂きます。

【デモンストレーション】12:30~17:15

実機を使用した粒子径、ゼータ電位、膜厚測定のデモンストレーションをおこないます。

多検体ナノ粒子径測定システム nanoSAQLA
ゼータ電位・粒径・分子量測定システム ELSZ-2000series
顕微分光膜厚計 OPTM series
非接触光学厚み計