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膜厚測定技術セミナー in 大阪

無事終了いたしました。 多数のご来場を頂き、誠にありがとうございました。

本セミナーでは、コーティング膜、多層膜、フィルム、半導体などの膜厚を非接触・非破壊・高速で測定可能な光学干渉式膜厚計の原理とアプリケーションをご紹介いたします。

大塚電子では、ナノ~ミリ単位の、幅広い膜厚に対応した機種をラインナップしております。
また、完全リニューアルされた新製品の『顕微分光膜厚計 OPTM series』を用いて装置のデモンストーションを行います。
お気軽にご参加ください。

●名称

膜厚測定技術セミナー in 大阪

●日時

2017年8月2日(水) 13:30~16:00 (受付13:00~)

●会場

大塚製薬株式会社 大阪本部 11F会議室

●参加費

無料

●担当者

営業部 加藤・山口
(TEL:06-6910-6522 / FAX:06-6910-6528)

膜厚測定技術セミナープログラム

【受付開始】13:00

【Seminar】13:30~15:00

光学干渉式膜厚計の基礎とアプリケーションのご紹介

コーティング膜、多層膜、フィルム、半導体などの膜厚を非接触・非破壊・高速で測定可能な光学干渉式膜厚計の原理とアプリケーションをご紹介いたします。
大塚電子では、ナノ~ミリ単位の、幅広い膜厚に対応した機種をラインナップしております。

【Demonstration】15:00~16:00

顕微分光膜厚計 OPTM series
顕微分光膜厚計 OPTM series

顕微分光膜厚計 OPTM series

完全リニューアルされた新製品『顕微分光膜厚計 OPTM series』を用いて装置のデモンストーションを行います。