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Webセミナー【光干渉法を原理とする膜厚測定装置を使いこなすためのノウハウ】（2025年6月）
光を用いた各種分析装置を開発してきました大塚電子が、先端技術をサポートする分析装置と、その測定技術、応用例などについてWebセミナーを開催いたします。
ぜひ、ご参加ください。
※本セミナーは2024年3月に配信したものを再配信いたします。
| ●名称 | Webセミナー【光干渉法を原理とする膜厚測定装置を使いこなすためのノウハウ】（2025年6月） |
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| ●日時 | 2025年6月18日（水） 15：00～16：00 ※お申込は6月18日（水）10時で締め切らせていただきます。
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| ●会場 | Webセミナー（オンラインセミナー） |
| ●参加費 | 無料 |
| ●担当者 | 岡本・真木 |
【Seminar】15：00～16：00
光干渉法を原理とする膜厚測定装置を使いこなすためのノウハウ
顕微分光膜厚計 |
光干渉式の膜厚計について、測定がうまくいかない、干渉が見えているのに膜厚がうまく出ない、そもそも測定がうまくいっているかわからない、ということはありませんでしょうか？ 光干渉法の原理から測定例、よくある測定の質問、測定のコツなど光干渉法を原理とする膜厚測定装置をより良く使っていただく情報をご紹介致します。 |
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ご視聴方法
本セミナーは「Microsoft Teams」を使用します。
参加申込みいただいた方に、後日視聴用URLをご連絡いたします
インターネット環境のあるパソコン・タブレット・スマートフォンがあれば、どこからでも参加可能です。
※パソコン・タブレットの場合は、ブラウザで参加可能です
推奨ブラウザ：Microsoft Edge または Google Chrome
※スマートフォンの場合は、Teamsアプリをインストールする必要があります
注意事項
・セミナーの録音や録画は固くお断りさせていただきます。
・同業者のご登録はご遠慮いただいておりますのでご了承ください。
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