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Webセミナー【次世代半導体工程を支える大塚電子のソリューションご紹介】(2026年12月)

光を用いた計測・分析機器の開発で培った技術を活かし、先端技術を支える装置・測定技術・応用例を中心に解説するWebセミナーを開催いたします。
ぜひ、ご参加ください。

                 ※本セミナーは2025年12月に配信したものを再配信いたします。

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●名称

Webセミナー【次世代半導体工程を支える大塚電子のソリューションご紹介】(2026年12月)

●日時

2026年12月22日(火) 15:00~15:50 (開始10分前よりアクセス可能です)

 ※お申込は12月22日(火)10時で締め切らせていただきます。
 ※参加URLは開催日の1週間前頃、前日、当日に申込者の方にお送りいたします。

●会場

Webセミナー(オンライン)

●参加費

無料

●担当者

真木・岡本
(OELJP-webmaster@otsuka.jp)

●案内状

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【Seminar】15:00~15:50

次世代半導体工程を支える大塚電子のソリューションご紹介

半導体のさらなる微細化が限界に近づく中、新たな技術アプローチとして中間工程を含むアドバンストパッケージ工程が注目を集めています。 本セミナーでは、こうした業界の最新動向を踏まえ、大塚電子の計測・分析機器がどのように課題解決に貢献できるかをご紹介します。実際の測定事例や最新トピックスも交えながら、最先端のソリューションをわかりやすく解説します。

 

【関連機器】

顕微分光膜厚計 OPTM series  

 

顕微分光膜厚計 OPTM series 光波動場三次元顕微鏡 MINUK  

ラインスキャン膜厚計®

【オフライン(ウェーハ対応タイプ)】

ゼータ電位・粒子径・分子量測定システム

ELSZneo

 

 

ご視聴方法


本セミナーは「Microsoft Teams」を使用します。
参加申込みいただいた方に、後日視聴用URLをご連絡いたします。

インターネット環境のあるパソコン・タブレット・スマートフォンがあれば、どこからでも参加可能です。
 ※パソコン・タブレットの場合は、ブラウザで参加可能です。
   推奨ブラウザ:Microsoft Edge または Google Chrome
 ※スマートフォンの場合は、Teamsアプリをインストールする必要があります。

注意事項

・セミナーの録音や録画は固くお断りさせていただきます。
・同業者のご登録はご遠慮いただいておりますのでご了承ください。

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