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Webセミナー【次世代半導体工程を支える大塚電子のソリューションご紹介】(2025年12月)

光を用いた計測・分析機器の開発で培った技術を活かし、先端技術を支える装置・測定技術・応用例を中心に解説するWebセミナーを開催いたします。

●名称

[NEW]Webセミナー【次世代半導体工程を支える大塚電子のソリューションご紹介】(2025年12月)

●日時

2025年12月4日(木) 15:00~16:10 (開始10分前よりアクセス可能です)

 ※お申込は12月4日(木)10時で締め切らせていただきます。
 ※参加URLは開催日の1週間前頃、前日、当日に申込者の方にお送りいたします。

●会場

Webセミナー(オンラインセミナー)

●参加費

無料

●担当者

岡本・真木
OELJP-webmaster@otsuka.jp

●案内状

PDFダウンロードはこちら

【Seminar】15:00~16:10

次世代半導体工程を支える大塚電子のソリューションご紹介

半導体のさらなる微細化が限界に近づく中、新たな技術アプローチとして中間工程を含むアドバンストパッケージ工程が注目を集めています。 本セミナーでは、こうした業界の最新動向を踏まえ、大塚電子の計測・分析機器がどのように課題解決に貢献できるかをご紹介します。実際の測定事例や最新トピックスも交えながら、最先端のソリューションをわかりやすく解説します。

 

【関連機器】

顕微分光膜厚計 OPTM series  

 

顕微分光膜厚計 OPTM series 光波動場三次元顕微鏡 MINUK  

ラインスキャン膜厚計®

【オフライン(ウェーハ対応タイプ)】

ゼータ電位・粒子径・分子量測定システム

ELSZneo

 

 

ご視聴方法


本セミナーは「Microsoft Teams」を使用します。
参加申込みいただいた方に、後日視聴用URLをご連絡いたします

インターネット環境のあるパソコン・タブレット・スマートフォンがあれば、どこからでも参加可能です。
 ※パソコン・タブレットの場合は、ブラウザで参加可能です
   推奨ブラウザ:Microsoft Edge または Google Chrome
 ※スマートフォンの場合は、Teamsアプリをインストールする必要があります

なお、同業者のご登録はご遠慮いただいておりますのでご了承ください。
皆様のご参加を、心よりお待ち申し上げます。

注意事項

・セミナーの録音や録画は固くお断りさせていただきます。
同業者のご登録はご遠慮いただいておりますのでご了承ください。

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