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Webセミナー【膜厚測定】(2021年9月) 無料

光を用いた各種分析装置を開発してきました大塚電子が、先端技術をサポートする分析装置と、その測定技術、応用例などについてWebセミナーを開催いたします。
ぜひ、ご参加ください。

 ※本セミナーは2021年3月に録画したものを配信いたします。

●名称

Webセミナー【膜厚測定】(2021年9月)

●日時

2021年9月10日(金) 15:00~16:00

 ※お申込は9月10日(金)10時で締め切らせていただきます。
 ※参加URLは開催日1週間前頃、前日、当日に申込者の方にお送りいたします。

※ 参加申込みは締め切らせていただきました。

●会場

Webセミナー(オンラインセミナー)

●参加費

無料

●担当者

西井・岡本
webseminar@otsukaele.jp

【Seminar】15:00~16:00

分光干渉式による膜厚測定の原理とアプリケーションのご紹介

顕微分光膜厚計 OPTM series

顕微分光膜厚計

半導体市場やフィルム市場で使用される薄膜や多層膜を、
非接触・非破壊・高速で測定可能な光学干渉式膜厚計の
原理とアプリケーションをご紹介いたします。

ご視聴方法


本セミナーは「Microsoft Teams」を使用します。
参加申込みいただいた方に、後日視聴用URLをご連絡いたします

インターネット環境のあるパソコン・タブレット・スマートフォンがあれば、どこからでも参加可能です。
 ※パソコン・タブレットの場合は、ブラウザで参加可能です
   推奨ブラウザ:Microsoft Edge または Google Chrome
 ※スマートフォンの場合は、Teamsアプリをインストールする必要があります

注意事項

・セミナーの録音や録画は固くお断りさせていただきます。
同業者のご登録はご遠慮いただいておりますのでご了承ください。

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