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Webセミナー【電子部品関連膜厚測定】(2021年5月) 無料

光を用いた各種分析装置を開発してきました大塚電子が、先端技術をサポートする分析装置と、その測定技術、応用例などについてWebセミナーを開催いたします。
ぜひ、ご参加ください。

●名称

Webセミナー【電子部品関連膜厚測定】(2021年5月)

●日時

2021年5月20日(木) 15:00~16:00

 ※お申込は5月20日(木)10時で締め切らせていただきます。
 ※参加URLは開催日1週間前頃、前日、当日に申込者の方にお送りいたします。

●会場

Webセミナー(オンラインセミナー)

●参加費

無料

●担当者

西井・岡本
webseminar@otsukaele.jp

【Seminar】15:00~16:00

電子部品における顕微分光膜厚計を用いた膜厚測定

顕微分光膜厚計 OPTM series

顕微分光膜厚計

近年の機能性材料及び成膜技術の発展により、機能性膜で電子部品の性能や信頼性を向上させる技術が進化しています。
例えばプリント基板においては、電極の絶縁膜、レジスト膜、フラックス、保護膜などがあり、それらの機能を十分に担保するために膜厚測定の重要性が増しています。
プリント基板以外にも、コイルやFPCでも膜厚測定のニーズが高まっており、今後も電子部品全般で機能性膜の需要が拡大すると考えられます。
本セミナーでは電子部品の膜厚測定について、動画での実際の測定例を交えてご紹介いたします。

ご視聴方法


本セミナーは「Micorosoft Teams」を使用します。
参加申込みいただいた方に、後日視聴用URLをご連絡いたします

インターネット環境のあるパソコン・タブレット・スマートフォンがあれば、どこからでも参加可能です。
 ※パソコン・タブレットの場合は、ブラウザで参加可能です
   推奨ブラウザ:Micorosoft Edge または Google Chrome
 ※スマートフォンの場合は、Teamsアプリをインストールする必要があります

注意事項

・セミナーの録音や録画は固くお断りさせていただきます。
同業者のご登録はご遠慮いただいておりますのでご了承ください。

参加申込はこちら

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