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Webセミナー【膜厚測定】(2020年11月) 無料

無事終了いたしました。 多数のご来場を頂き、誠にありがとうございました。

光を用いた各種分析装置を開発してきました大塚電子が、先端技術をサポートする分析装置と、その測定技術、応用例などについてWebセミナーを開催いたします。
ぜひ、ご参加ください。

 ※本セミナーは事前に録画したものを配信いたします。

●名称

Webセミナー【膜厚測定】(2020年11月)

●日時

2020年11月5日(木) 15:00~16:00 (開始5分前よりアクセス可能です)

 ※ 参加申込みは締め切らせていただきました。

●会場

Webセミナー(オンラインセミナー)

●参加費

無料

●担当者

西井・岡本
webseminar@otsukaele.jp

【Seminar】15:00~16:00

分光干渉式による膜厚測定の原理とアプリケーションのご紹介

顕微分光膜厚計 OPTM series

顕微分光膜厚計

コーティング膜、多層膜、フィルム、半導体などの膜厚を非接触・非破壊・高速で測定可能な光学干渉式膜厚計の原理とアプリケーションをご紹介いたします

ご視聴方法


本セミナーは「Micorosoft Teams」を使用します。
参加申込みいただいた方に、後日視聴用URLをご連絡いたします

インターネット環境のあるパソコン・タブレット・スマートフォンがあれば、どこからでも参加可能です。
 ※パソコン・タブレットの場合は、ブラウザで参加可能です
   推奨ブラウザ:Micorosoft Edge または Google Chrome
 ※スマートフォンの場合は、Teamsアプリをインストールする必要があります

注意事項

・セミナーの録音や録画は固くお断りさせていただきます。
同業者のご登録はご遠慮いただいておりますのでご了承ください。

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