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OPIE'19

2019年4月24日(水)から26日(金)まで、パシフィコ横浜で「OPIE'19」が開催されます。
大塚電子では、「UV~NIRを測る」をテーマに装置を展示・紹介いたします。
ぜひ弊社ブースにて実機をお近くでご覧ください。各種資料を取り揃えて、皆様のご来場をお待ちしております。

●名  称

OPIE'19 (赤外・紫外応用技術展)

●会  期

2019年4月24日(水)~26日(金) 10:00~17:00

●会  場

パシフィコ横浜 展示ホールA・B

●入場料

2,000円
 (事前登録された方は、無料です) 
  事前登録は OPIE'19 公式ホームページからお申し込みください。

●主  催

一般社団法人 OPI協議会

出展ブース「O-23」

出展ブース「O-23」

■ 出展製品

紫外~近赤外を測る

高速ニアフィールド配光測定システム Rayhunter RH50
高速ニアフィールド配光測定システム Rayhunter RH50

配光特性を超高速測定、測定時サンプル静止、かんたん位置合わせ、光学シミュレーションソフトと連携