ホーム > 展示会・セミナー > JIMTOF(第29回 日本国際工作機械見本市)

JIMTOF(第29回 日本国際工作機械見本市)

無事終了いたしました。 多数のご来場を頂き、誠にありがとうございました。

2018年11月1日(木)から6日(火)まで、東京ビッグサイトで「JIMTOF 2018-第29回日本国際工作機械見本市」が開催されます。
大塚電子では、「表面処理の耐摩耗・品質向上・安心安全をサポート」をテーマに下記の装置を展示・紹介いたします。
ぜひ弊社ブースにて実機をお近くでご覧ください。各種資料を取り揃えて、皆様のご来場をお待ちしております。

●名  称

JIMTOF(第29回 日本国際工作機械見本市)

●会  期

2018年11月1日(木)~6日(火) 9:00~17:00

●会  場

東京ビッグサイト
 出展ブース「東7ホール E7004」

●入場方法

招待券による入場と有料入場券による入場の二通りがあります。
詳しくは、公式サイトをご確認ください。

● 主 催

一般社団法人 日本工作機械工業会

東7ホール E7004

東7ホール E7004

■ 出展製品

【膜厚計】透明サンプルに (DLC・光学材料・各種フィルム・センサー・半導体デバイス)

微細加工の成膜の品質管理に

● 顕微分光膜厚計 OPTM series
● 顕微分光膜厚計 OPTM series

DLCなどコーティング膜の厚みを1秒で測定することができる装置です。
初心者でも簡単に測定できるソフトウェア搭載。

微細加工の成膜の品質管理に -顕微分光膜厚計 OPTM series

大型・複雑な形状の成膜の品質管理に

● マルチチャンネル分光器 MCPD series
● マルチチャンネル分光器 MCPD series

複雑な部位・移動できない物にも届く、フレキシブルファイバーで高精度な測定を実現。
紫外から近赤外領域に対応した多機能マルチチャンネル分光器を用いたシステムです。

大型・複雑な形状の成膜の品質管理に -マルチチャンネル分光器 MCPD series

 

【厚み計】不透明サンプルに(電池材・不織布・ゲルシート・金属板・樹脂・セラミックシート・色付きシート・多孔質シート)

不透明、粗面、変形しやすいサンプルを非接触で測れる

● 非接触光学厚み計
● 非接触光学厚み計

不透明、粗面、変形しやすいサンプルを非接触で測れる -非接触光学厚み計