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nano tech 2018 国際ナノテクノロジー総合展・技術会議

2018年2月14日(水)から16日(金)まで、東京ビッグサイトで「nano tech 2018 ―国際ナノテクノロジー総合展・技術会議」が開催されます。
大塚電子では「粒子物性、材料評価、膜厚評価」の三つのカテゴリから装置を展示・紹介いたします。
また、新製品も出展いたしますので、ぜひ弊社ブースにて実機をお近くでご覧ください。各種資料を取り揃えて、皆様のご来場をお待ちしております。

●名  称

nano tech 2018 国際ナノテクノロジー総合展・技術会議

●会  期

2018年2月14日(水)~16日(金) 10:00~17:00

●会  場

東京国際展示場(東京ビッグサイト) 東4・5・6ホール

●入場料

3,000円
 (事前登録された方には、無料招待券が送付されます) 
  事前登録を希望される方は nano tech 2018 ホーム
  ページ内のこちらのページからお申し込みください。

●主  催

nano tech 実行委員会
株式会社JTBコミュニケーションデザイン

出展ブース「東4ホール 4B-12」

出展ブース「東4ホール 4B-12」

■ 出展製品

【新製品!!】多検体ナノ粒子径測定

多検体ナノ粒子径測定システム nanoSAQLA

新製品!!多検体粒子径測定システム nanoSAQLA

・この1台で手軽に5検体連続測定
・希薄系から濃厚系まで対応 (濃度範囲:0.00001~40%)
・簡単温度コントロール (温度範囲:0~90℃)
・分注なしのコンタミレス
・かんたん測定機能

粒子径+ゼータ電位で分散・凝集状態がわかる

● ゼータ電位・粒径・分子量測定システム ELSZ-2000 series+ELSZ-PT

ゼータ電位・粒径・分子量測定システム ELSZ-2000 series+ELSZ-PT

ナノ粒子の分散・凝集・相互作用、表面改質の指標となるゼータ電位および粒子径・粒子径分布、分子量を測定することが可能です。そして新たに“簡単測定モード”が搭載されました。

粒子物性・高塩濃度対応・平板ゼータ電位測定対応・広い温度範囲(0-90℃)・変性、相転移温度解析

 

量子ドット材料は粒子径によって発光波長が変わる
粒子径・分散安定性・蛍光特性がわかる

量子効率測定システム   QE series+ ゼータ電位・粒径・分子量測定システム ELSZ-2000 series

量子効率測定システム QE series +
ゼータ電位・粒径・分子量測定システム ELSZ-2000 series

蛍光体(粉体、液体、固体)の絶対量子効率を瞬時に測定できます。QE-2100は温度依存性測定や紫外~近赤外の広い波長範囲にも対応可能です。

材料評価・粒子径・ゼータ電位・pHタイトレーション・量子効率・発光スペクトル・励起スペクトル

あらゆる材料の成分分析に最適
一台で多成分分析

キャピラリ電気泳動システム   Agilent 7100

キャピラリ電気泳動システム Agilent 7100

陰イオン、陽イオン、有機酸、アミノ酸、糖などの異なる物性のイオンを一斉に分析できます。試料の調製が簡単かつ微量で短時間・高分解能な分析が可能です。

材料評価・微量・短時間・高分解能・一台で多成分分析・陽イオン・陰イオン

結晶化温度・速度・球晶径をリアルタイムで評価

高分子相構造解析システム

高分子相構造解析システム

高分子材料のスピノーダル分解過程の相転移温度や相関長評価、機能性フィルムの内部構造評価、結晶性高分子の結晶化評価をリアルタイムで定量化可能です。

材料評価・結晶化(温度・速度)・球晶評価・相分離過程相関長・粒子径、凝集速度

エリプソメータに匹敵する高精度・高速・手軽さ

顕微分光膜厚計   OPTM series

顕微分光膜厚計 OPTM series

色付き試料、極薄膜などのナノ薄膜の多層膜評価を非破壊・非接触で測定。1ポイント1秒の高速測定でストレスフリーな測定を実現。簡単に解析できる楽々解析ウイザードを搭載。

膜厚・極薄膜・絶対反射率測定・膜厚解析・光学定数(nk解析)

 

大型・複雑な形状の膜の評価、
in-situ にも対応

マルチチャンネル分光器   MCPD series

マルチチャンネル分光器 MCPD series

膜厚・非接触、非破壊・紫外~近赤外、高速・高分解能分光測定

 

セミナー情報

ブース内セミナー

弊社ブース内(東4ホール 4B-12)にて毎日開催いたします。
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≪新製品≫ 多検体ナノ粒子径測定システム「nanoSAQLA」のご紹介
     10:10 / 11:10 / 12:10 / 13:40 / 14:40 / 15:40
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ゼータ電位・粒径・分子量測定システム「ELSZ-2000 series」のご紹介
     10:40 / 11:40 / 13:10 / 14:10 / 15:10 / 16:10
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