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メカトロテック ジャパン2017

無事終了いたしました。 多数のご来場を頂き、誠にありがとうございました。

2017年10月18日(水)から21日(土)まで、ポートメッセなごやで「メカトロテックジャパン2017」が開催されます。
大塚電子では、「表面処理の耐摩耗・品質向上・安心安全をサポート!“試料の形状やサイズを問わない、非接触・非破壊” 膜厚・膜質解析」をテーマに下記の装置を展示・紹介いたします。
ぜひ弊社ブースにて実機をお近くでご覧ください。各種資料を取り揃えて、皆様のご来場をお待ちしております。

● 名  称

メカトロテック ジャパン2017

● 会  期

2017年10月18日(水)~21日(土) 10:00~17:00 (金曜は19:00まで、最終日は16:00まで)

● 会  場

ポートメッセなごや

● 入 場 料

1,000円(招待券持参者、Webによる事前登録者および学生は無料)
  (事前登録はこちら

出展ブース 1号館(南西) 1C09

出展ブース 3号館 1C09

出展製品

微細加工の成膜の品質管理に

顕微分光膜厚計 OPTM series
顕微分光膜厚計 OPTM series

数nmの薄膜から数百μmの厚膜までカバー

DLCなどコーティング膜の厚みを1秒で測定することができる装置です。初心者でも簡単に測定できるソフトウェア搭載。

膜厚 1nm ~ 92μm
微小領域 φ3μm ~ φ100μm
膜質解析 光学定数(nk)、多層膜

 

非接触非破壊・高速測定1秒・簡単測定

 

大型・複雑な形状の成膜の品質管理に

マルチチャンネル分光器 MCPD series
マルチチャンネル分光器 MCPD series

サブμmの薄膜からサブmmの厚膜までカバー

複雑な部位、移動できない物にも届く、フレキシブルファイバーで高精度な測定を実現。紫外から近赤外領域に対応した多機能マルチチャンネル分光器を用いたシステムです。

膜厚 20nm ~ 400μm
透過・反射 測定範囲 220 ~ 1600μm

 

非接触非破壊・紫外~近赤外・高速・高分解能分光測定

 

パネル展示

素材を選ばず簡単測定

非接触厚み計

非接触厚み計

従来困難とされていた様々なサンプルの測定を非接触・非破壊で簡単に行うことができます。

●不織布 ●多孔質シート ●色付きシート ●金属板 ●ゲルシート
●電池用セパレータ ●セラミックシート ●多層対応

粗面・多層対応

めっき液や電池材の分析に最適

● キャピラリ電気泳動システム Agilent 7100
● キャピラリ電気泳動システム Agilent 7100

陰イオン、陽イオン、有機酸、アミノ酸、糖などの異なる物性のイオンを一斉に分析できます。試料の調製が簡単かつ微量で短時間・高分解能な分析が可能です。

● ゼータ電位・粒径・分子量測定システム ELSZ-2000 series
● ゼータ電位・粒径・分子量測定システム ELSZ-2000 series

ナノ粒子の分散・凝集・相互作用、表面改質の指標となるゼータ電位および粒子径・粒子径分布、分子量を測定することが可能です。