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技術セミナー in 松山 無料

無事終了いたしました。 多数のご参加を頂き、誠にありがとうございました。

光を用いた各種分析装置を開発してきました大塚電子が、先端技術をサポートする分析装置と、その測定技術、応用例などについてセミナーを松山にて開催いたします。セミナーは3つのテーマをご用意しております。ご希望のセミナーのみのご参加も可能です。
ぜひ、ご参加ください。

●名称

技術セミナーin松山

●日時

2017年7月12日(水) 13:00~16:00 (受付12:30~)

●会場

ひめぎんホール
 別館 第14・15会議室

●参加費

無料

●担当者

川西
(TEL:06-6910-6522 / FAX:06-6910-6528)

技術セミナープログラム

【受付開始】12:30

【Seminar1】13:00~13:40

粒径・ゼータ電位測定の原理と最新アプリケーションのご紹介

ゼータ電位・粒径・分子量測定システム ELSZ-2000ZS

ゼータ電位・粒径・分子量測定システム

ナノからミクロンサイズのコロイド粒子、エマルジョンなどの分散・凝集、表面処理評価には、粒径、ゼータ電位測定が重要です。希薄系から懸濁溶液まで対応しており、さらにはフィルム、ウェーハなど平板状試料の表面電位評価にも対応しております。各業界のアプリケーションをご紹介します。

【休憩・質疑応答】13:40~13:50

【Seminar2】13:50~14:30

キャピラリー電気泳動測定の原理と最新アプリケーションのご紹介

キャピラリ電気泳動システム Agilent 7100

キャピラリ電気泳動システム

イオンクロ、液クロ、ICP、原子吸光と比較して、高い分解能と分析の迅速さに加え、サンプルの前処理がほとんどいらず、消耗品のコストが少なくて済む優れた分離分析方法です。陽イオン、陰イオン、有機酸、金属イオン、アミノ酸、糖、タンパクなど幅広い成分を1台の装置で分析可能です。各業界のアプリケーションをご紹介します。

【休憩・質疑応答】14:30~15:00

【Seminar3】15:00~15:40

完全リニューアルされた膜厚計とフィルム、半導体材料、光学材料のアプリケーションのご紹介

顕微分光膜厚計 OPTM series

顕微分光膜厚計

R&Dから品質管理、組込用途まで対応可能で、かつ多層膜・光学定数解析が可能な高精度な光学干渉式膜厚計と、フィルムやウエーハなどに求められる最新の膜厚計測アプリケーションをご紹介します。

【分析相談室】

膜厚、粒径、ゼータ電位、キャピラリー電気泳動のご質問・お悩みに個別でお応え致します。

個別に各30分程度までのご相談に応じさせて頂きます。
※人数制限、時間制限が御座いますので、ご希望の方は、お申込みフォームの「分析相談室」にチェックを入れ、
 お申し込みフォーム下部にある分析相談室欄にあるテキストボックスにその内容のご記入をお願い致します。
 後日、弊社担当者よりお時間のご連絡をさせて頂きます。


【 予約受付期間 : 7月5日(水)まで 】 【 無料 】

好評につき締切させていただきました。
ご希望の方は個別にご相談ください。

【デモ測定】

ELSZ-2000(粒径、ゼータ電位)、OPTM(膜厚)のデモ測定を実施致します。

個別に3検体までのデモ測定に応じさせて頂きます。
※人数制限、時間制限がございますので、ご希望の方は、お申し込みフォームの「デモ測定」にチェックを入れ、
  サンプル内容のご記入をお願い致します。
  後日、弊社担当者よりお時間のご連絡をさせて頂きます。

※ELSZ-2000の測定サンプルは会場の都合上、水系溶媒のみとさせていただきます。
※当日の装置仕様で対応できない場合はサンプルをお預かりしての分析になります。ご了承をお願いします。

【 予約受付期間 : 7月5日(水)まで 】 【 無料 】

好評につき締切させていただきました。
ご希望の方は個別にご相談ください。

【装置展示コーナー】12:30~16:00

【顕微分光膜厚計】
これからは非接触、非破壊、顕微で測定時間1秒!

●顕微分光膜厚計 OPTM series

●顕微分光膜厚計 OPTM series

・膜厚測定に必要な機能をヘッド部に集約!
・顕微分光で高精度な絶対反射率測定(多層膜厚、光学定数)
・1ポイント1秒以内の高速測定
・顕微下で広い測定波長範囲を実現する光学系(紫外~近赤外)
・エリアセンサーによる安全機構
・初めての方でも光学定数解析が可能な楽々解析ウイザード
・測定シーケンスをカスタマイズ可能なマクロ機能搭載
・各種カスタマイズに対応

  OPTM-A1 OPTM-A2 OPTM-A3
 波長範囲 230~800nm 360~1100nm 900~1600nm
 膜厚範囲 1nm~35μm 7nm~49μm 16nm~92μm
 サンプルサイズ Max.200mm×200mm×17mm
 スポット径 φ10μm(反射20倍レンズ)、その他
 タクトタイム 1秒 / 1ポイント
 寸法(WDH) 本体 555×537×559 mm、コントロールユニット 500×180×288 mm
 ユーティリティ 750VA

【ゼータ電位・粒径・分子量測定システム】
従来からの希薄溶液~濃厚溶液でのゼータ電位・粒子径測定に加え、分子量測定も可能な装置

●ゼータ電位・粒径・分子量測定システム ELSZ-2000series

●ゼータ電位・粒径・分子量測定システム ELSZ-2000series
従来からの希薄溶液~濃厚溶液でのゼータ電位・粒子径測定に加え、分子量測定も可能な装置です。
粒子径測定範囲(0.6nm~10μm)、濃度範囲(0.00001%~40%)に対応。電気浸透流を実測し、高精度なゼータ電位測定を可能とした最小容量130μL~のディスポーザブルセルで測定が可能です。
また新たに0~90℃の幅広い温度範囲で、自動温度グラジエント測定をおこない変性・相転移温度解析が可能です。
 
●測定項目
 ゼータ電位  -200 ~ 200 mV
 電気移動度  -20×10 -4 ~ 20×10 -4 cm2/V・s
 粒子径  0.6 nm ~ 10000 nm
 分子量  360 ~ 2000×104

 

●測定範囲
 測定温度範囲  0 ~ 90℃
 測定濃度範囲  粒子径:0.00001 % (0.1ppm) ~ 40 % *1
 ゼータ電位:0.001%~40%

*1(Latex112nm: 0.00001 ~ 10%、タウロコール酸: ~ 40%)

 

【キャピラリー電気泳動】
陽イオンや陰イオンなど異なる成分を一台の装置で分析可能

●キャピラリ電気泳動装置 Agilent 7100

●キャピラリ電気泳動装置 Agilent 7100

陽イオンや陰イオンなど異なる成分を一台の装置で分析が可能です。
微量サンプルで短時間・高分解能な分析が可能です。

 光源  長寿命重水素ランプ (RFIDタグ付き)
 検出器  リアルタイム UV-Vis ダイオードアレイ検出器
 測定波長範囲  190 ~ 600 nm
 測定精度  1 nm
 泳動電源  電圧範囲 : 0 ~ ±30kV 、 電流 : 0 ~ 300μA 、 電力 : 0 ~ 6W
 定電圧、定電流、または低電力で動作。プログラムにより極性逆転可能
 電源  AC100 ~ 240V 、 50/60Hz 、 300VA
 寸法(WDH)  350×590×510 mm
 重量  35 kg

 

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