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光散乱分析ミニセミナー2015 【ゼータ電位測定】のご案内 無料

無事終了いたしました。 多数のご来場を頂き、誠にありがとうございました。

2015年5月

お客様各位
初夏を感じるこの頃、皆様いかがお過ごしですか。

さて、17年前より開催しております弊社分析ミニセミナーの日程が決定しましたのでご案内いたします。

分析ミニセミナーは、既存ユーザーの新担当、新規ユーザー、装置検討中の方など、初心者向けのセミナーでございます。弊社の最新装置を用いたデモンストレーションも行います。光散乱にご興味をお持ちの方、装置購入をご検討の方、さらにすでに装置をお持ちの方で説明をご希望の方、どうかご参加下さいますようお願い申し上げます。皆様の参加申し込みをお待ちしております。

敬具

大塚電子株式会社
粒子物性分析グループ

光散乱分析ミニセミナー2015【ゼータ電位測定】

光散乱法によるゼータ電位測定の原理とアプリケーションの紹介

 光散乱の基本技術を理解し、実際の装置操作やデータ解析ができるようになるためのトレーニングコース。


テーマ 使用機種 東京会場 大阪会場
【 光散乱法によるゼータ電位測定の原理と
  アプリケーションの紹介 】
  コロイド粒子の分散安定性評価から固体表面電位の測定まで
 ELSZ-2000  7月28日(火)  7月30日(木)

 

光散乱分析ミニセミナー2015【ゼータ電位測定】

開 催 日

<東京会場> 7月28日(火)
<大阪会場> 7月30日(木)

時    間

13:30~16:30

会    場

<東京会場> 八王子市学園都市センター 12F 第1セミナー室

<大阪会場> 大塚製薬 大阪本部 2F 大会議室

※参加多数の場合、会場が変更になる場合がございます。予めご了承ください。

参 加 費

無料

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