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nano tech 2015 国際ナノテクノロジー総合展・技術会議

無事終了いたしました。 多数のご参加を頂き、誠にありがとうございました。

1月28日(水)から30日(金)まで、東京ビッグサイトで「nano tech 2015 国際ナノテクノロジー総合展・技術会議」がおこなわれます。
大塚電子は、ゼータ電位・粒径測定システム、ダイナミック光散乱光度計、濃厚系粒径アナライザー、FPAR用オートサンプラー、キャピラリ電気泳動システム、量子効率測定システム、膜厚モニターを展示いたします。(東4ホールブースNo.4G-13)
各種技術資料も取り揃えて、皆様のご来場をお待ちしております。

また、シーズ&ニーズセミナーでは「ナノ粒子の物性評価方法の最新技術」というタイトルで講演をおこないます。こちらのセミナーにもご参加ください。お待ちしております。

●名  称

nano tech 2015 国際ナノテクノロジー総合展・技術会議

●会  期

2015年1月28日(水)~30日(金) 10:00~17:00

●会  場

東京国際展示場(東京ビッグサイト) 東4・5・6ホール

●入場料

3,000円
 (事前登録された方には、無料招待券が送付されます) 
  事前登録を希望される方は nano tech 2014 ホーム
  ページ内のこちらのページからお申し込みください。

●主  催

nano tech 実行委員会

出展ブース「東4ホール 4G-13」

出展ブース「東4ホール 4G-13」

■ 出展製品

<希薄溶液から濃厚溶液まで幅広い濃度範囲のゼータ電位・粒子径を一台で測定可能>

● ゼータ電位・粒径・分子量測定システム ELSZ-2000 series

ゼータ電位・粒径・分子量測定システム ELSZ-2000 series

従来からの希薄溶液に加え濃厚溶液でのゼータ電位・粒子径測定が可能な装置です。粒子径測定範囲も(0.6nm~10μm)、濃度範囲(0.00001%~40%)に対応。電気浸透流を実測し、高精度なゼータ電位測定を可能とした業界最小容量130μL~のディスポーザブルセルで測定が可能です。

ゼータ電位 -200 ~ 200mV
粒子径・粒度分布 0.6nm ~ 10000nm
分子量 360 ~ 20,000,000
対応濃度範囲 粒子径:0.00001 % (0.1ppm) ~ 40 % *
ゼータ電位:0.001%~40%td>

 *(Latex112nm: 0.00001 ~ 10%、タウロコール酸: ~ 40%)

<pHに対するゼータ電位変化を連続測定可能>

● ELSZ用pHタイトレーターシステム ELSZ-PT

ELSZ用pHタイトレーターシステム ELSZ-PT

ELSZシリーズとの組み合せにより、pHに対するゼータ電位変化を連続測定することが可能です。

pH範囲 pH1 ~ 13

<粒子径・分子量測定>

● ダイナミック光散乱光度計 DLS-8000

ダイナミック光散乱光度計 DLS-8000

動的光散乱法を用いた粒子径・粒子径分布(粒径・粒径分布)測定と静的光散乱法を用いた絶対分子量・慣性半径・第二ビリアル係数の測定が可能です。

粒子径・粒度分布 1.4nm ~ 7000nm
重量平均分子量 3×102 ~ 2×107
第二ビリアル係数 -1 ~ 20×10-4 mol・cm3・g-2

<ナノ粒子の分散状態評価、濃厚溶液での粒子径計測が可能>

● 濃厚系粒径アナライザー FPAR-1000

濃厚系粒径アナライザー FPAR-1000

希薄系から濃厚系まで、幅広い濃度領域での粒子径測定コロイド分散液やスラリーの分散状態の解析に最適です。

粒子径・粒度分布 1nm ~ 5000nm (高感度仕様)
対応濃度範囲 0.001% ~ 10% (ラテックス112nmの場合)

<50検体までの試料の粒子径の自動測定が可能>

● FPAR用オートサンプラー

FPARとオートサンプラーの組み合せで、50検体までの試料について粒子径の自動測定が可能です。 サンプル量が1mlで、安価なディスポセルを用いての測定が可能です。

<陽イオンや陰イオンなど異なる成分を一台の装置で分析可能>

● キャピラリ電気泳動システム Agilent 7100

キャピラリ電気泳動システム Agilent 7100

陽イオンや陰イオンなど異なる成分を一台の装置で分析が可能です。 微量サンプルで短時間・高分解能な分析が可能です。

測定波長範囲 190nm ~ 600nm
泳動電力 * 電圧 : 0 ~ ±30kV 、 電流 : 0 ~ 300μA
サンプル温調制御 室温以下 10~60℃

 *極性逆転可能

<超高感度・高精度・低迷光MCPD分光器を用いた量子効率測定>

● 量子効率測定システム QE-2000

量子効率測定システム QE-2000

● 瞬時に絶対量子効率(絶対量子収率)の測定が可能です。
● 再励起蛍光発光の除去が可能です。
● 低迷光マルチチャンネル分光検出器の採用により、紫外域での迷光を大きく低減しています。

測定波長範囲 250nm ~ 1100nm
励起波長範囲 250nm ~ 800nm
測定項目 蛍光スペクトル測定、量子効率測定

<小型・低価格!簡単操作で、"非接触"膜厚測定!>

● 膜厚モニター FE-300

膜厚モニター FE-300

薄膜から厚膜の幅広い膜厚測定に対応可能な光干渉式膜厚計です。
コンパクト・低価格でありながら高精度測定を実現します。

測定膜厚範囲 *1 10nm ~ 40um *2
測定波長範囲 300nm ~ 800nm *2
測定項目 絶対反射率測定、多層膜厚解析(5層)、光学定数解析

 *1 光学的膜厚:nd
 *2 仕様により測定膜厚範囲および測定波長範囲は異なります

シーズ&ニーズセミナー

併催のシーズ&ニーズセミナーでは以下の内容でセミナーをおこないます。 ぜひご聴講ください。

●テ ー マ ナノ粒子の物性評価方法の最新技術
 -粒子径・ゼータ電位測定から分子量測定まで-
●対象製品 ゼータ電位・粒径・分子量測定システム(ELSZ-2000 series)
●日  時 2015年1月30日(金) 14:10~14:55
●会  場 シーズ&ニーズセミナー A会場 (東5ホール)

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