高分子相構造解析システム
PP-1000

小角光散乱法(SALS)を用いて、高分子やフィルムの構造をリアルタイムに、連続的に評価できる装置です。
光源に可視光を使用している為、小角X線散乱(SAXS)や、小角中性子散乱(SANS)装置と比べ、より大きな構造(マイクロメートルオーダー)の評価が可能です。
偏光板を用いたHv散乱測定からは、光学異方性の評価や結晶構造の解析ができ、Vv散乱測定からはポリマーブレンドの評価や、配向特性の解析が行えます。

資料ダウンロードお問い合わせ

特長

散乱角度0.33～45°の測定を最短10msecで測定可能（※HDR機能を使用しない時）
サブミクロン～数百ミクロンの構造を評価
専用のセルで溶液サンプルも測定可能
Hv散乱、Vv散乱測定をソフト上で簡単に切り替え可能
卓上タイプで実験室に設置可能

資料ダウンロードお問い合わせ

PP-1000とは
評価項目
測定範囲
（理論値）
測定例
原理
仕様
測定方法比較

高分子相構造解析システム PP-1000とは

評価項目

ポリマー
ブレンド
の相分離過程

ポリマー結晶化過程

結晶サイズの
算出、
結晶成長
速度の算出

配向状態

凝集過程

熱硬化過程

温度変化時の構造変化

延伸による構造変化

　※別途相談

紫外線による硬化過程

　※別途相談

測定範囲（理論値）

球晶径 1.3～175μm

相関長 0.1～100μm

測定例

原理

仕様

測定原理	小角光散乱法
光源	半導体レーザ（波長785nm）
検出器	CMOSカメラ
測定範囲（理論値）	球晶径 1.3～175μm 相関長 0.1～100μm
ダイナミックレンジ	120db以上（HDR機能使用）
測定散乱角度	0.33°～45° （カメラ長に依存）　カメラ長　　角度範囲　　角度分解能　　50mm　　 2°～45° 　　　0.3° 　　150mm　　0.67°～18.4° 　0.1° 　　300mm　　0.33°～9.5° 　 0.05°
取得像	Hv光散乱像、Vv光散乱像
測定スポット	約1mm
ビームストッパー	φ3mm
測定時間	10msec～ ^※
電源	AC100-240V　75VA
寸法	W350×D500×H760（mm）
データ処理部	ノートPC（Windows）