高速リタデーション測定装置
RE-200
光軸の高精度管理！ 3σ≦0.02°
低リタデーション測定に
低リタデーション測定に
測定項目
- リタデーション（ρ[deg.], Re[nm]）
- 主軸方位角（θ[deg.]）
- 楕円率（ε）・方位角（γ）
- 三次元屈折率（NxNyNz）
測定対象
- 位相差フィルム
- 偏光フィルム
- 楕円フィルム
- 視野角改善フィルム
- 各種機能性フィルム
- 樹脂
- ガラス 透明で異方性のあるもの
特長
- 0nmからの低（残留）リタデーション測定が可能
- 光軸検出と同時にリタデーション(Re.)の高速測定が可能
（世界最速相当0.1秒以下での処理が可能です） - 駆動部がないため、高い繰り返し再現性を実現
- 設定する測定項目が少なく、測定が簡単
- 測定波長は550nmのほか、さまざまな波長をラインアップ
- Rth測定、全方位角測定が可能
（オプションの自動回転傾斜治具が必要です） - 引張試験機と組み合わせることにより、フィルムの偏光特性と同時に光弾性評価が可能
（このシステムは特注対応となります）
高速リタデーション測定装置 RE-200とは
フォトニック結晶素子（偏光素子）とCCDカメラとで構成された偏光計測モジュールと、透過の偏光光学系を組み合せて、高速かつ高精度な位相差（リタデーション）、および主軸方位角の測定をおこなうことができます。 偏光強度パターンをCCDカメラの１ショットで取得するため偏光子回転のための機構もなく、システム全体としてコンパクトな構成になっており、長時間の使用に対しても安定した性能を維持できます。
測定項目
リタデーション
（ρ[deg.], Re[nm]）
主軸方位角
（θ[deg.]）
楕円率（ε）
・方位角（γ）
三次元屈折率
（NxNyNz）
測定対象
測定例
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