リタデーション測定装置
RETS-100nx

OLED用偏光板、積層位相差フィルム、IPS液晶位相差フィルム付偏光板など、あらゆるフィルムに対応したリタデーション測定装置です。
超高Re.60000nmに対応の高速・高精度測定を実現。
フィルムの積層状態を“剥がさず、非破壊”で測定可能です。さらに、操作面でもかんたんソフトウェアや、サンプルの置き直しによるズレに対応した補正機能を搭載し、手軽に高精度な測定ができます。

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測定項目（フィルム、光学材料）

リタデーション（波長分散）
遅相軸
Rth*
3次元屈折率*

測定項目（偏光板）

吸収軸
偏光度
消光比
各種色度
各種透過率

測定項目（液晶セル）

セルギャップ
プレチルト角*
ツイスト角
配向角

*自動傾斜回転ステージが必要です（オプション）

測定対象

表示デバイス
光学材料
フィルム
化学工業材料

特長

独自の分光器だからできる高精度測定
超高リタデーション測定
多層測定
軸角度補正機能
かんたんソフトウェア

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RETS-100nx
とは
測定項目
測定対象
光学系
特長
仕様

リタデーション測定装置 RETS-100nxとは

測定項目
（フィルム、光学材料）

リタデーション（波長分散）

遅相軸

Rth^*1

*1オプション

3次元屈折率^*1

*1オプション

測定項目（偏光板）

吸収軸

偏光度

消光比

各種色度

各種透過率

測定項目（液晶セル）

セルギャップ

プレチルト角^*1

*1オプション

ツイスト角

配向角

測定対象

表示デバイス光学材料フィルム化学工業材料

光学系

特長

独自の分光器だからできる
高精度測定

■ 高精度
多波長測定により高精度を実現

＜高精度な理由＞

独自の高性能マルチチャンネル分光器を使用
透過率の情報を多く得ることができるため、
高精度な測定が可能
（得られる透過率の情報が約500波長と、他社製品と比較して約50倍）

■ 幅広い測定範囲
（リタデーション範囲：0 ～ 60000nm）

■ リタデーション波長分散形状がわかる

超高リタデーション測定

■ 高リタデーション
超複屈折フィルムを高速・高精度に測定できる

多層測定

■ 剥がさず、非破壊でさまざまなフィルムの積層状態を測定できる

軸角度補正機能

■ サンプルを10回置き直して、
結果を角度補正なし・ありで比較
【サンプル：位相差フィルムR85 】

サンプル設置がズレていても手軽に再現性良く測れる

かんたんソフトウェア

■ 測定時間と処理時間が大幅短縮。操作性大幅UP　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　

仕様

型式	リタデーション測定装置 RETS-100nx
測定項目（フィルム、光学材料）	リタデーション（波長分散）、遅相軸、Rth1、3次元屈折率1など
測定項目（偏光板）	吸収軸、偏光度、消光比、各種色度、各種透過率など
測定項目（液晶セル）	セルギャップ、プレチルト角*1、ツイスト角、配向角など
リタデーション測定範囲	0 ～ 60,000nm
リタデーション繰り返し性	3σ≦0.08nm （水晶波長板約600nm）
セルギャップ測定範囲	0 ～ 600μm （Δn=0.1の場合）
セルギャップ繰り返し性	3σ≦0.005μm （セルギャップ約3μm、Δn=0.1の場合）
軸検出繰り返し性	3σ≦0.08° （水晶波長板約600nm）
測定波長範囲	400 ～ 800nm （他選択可能）
検出器	マルチチャンネル分光器
測定径	φ2mm （標準仕様）
光源	100W ハロゲンランプ
データ処理部	パーソナルコンピュータ、モニター
ステージサイズ：標準	100mm × 100mm （固定ステージ）
オプション	・超高リタデーション測定・多層測定・軸角度補正機能・自動XYステージ・自動傾斜回転ステージ