高分子相構造解析システム PP-1000 測定方法比較

高分子相構造解析システム 
PP-1000の測定方法を比較いたします。

小角光散乱技術の特長

小角光散乱(SALS) 小角X線散乱(SAXS) 小角中性子散乱(SANS)
プローブ

可視光

X線 中性子線
測定範囲

1μm ~ 100μm

1nm ~ 100nm 1nm ~ 100nm
光源波長

数百nm

数Å 数Å
特徴

・安価で簡便
・In-Situでリアルタイム測定が可能
・光学異方性の評価が可能
・透明試料のみ測定可

・散乱強度が高い
・実験室レベルで測定可能
・軽元素(H,Li等)の測定が苦手
・透明試料以外も測定可
・散乱強度が低い
・大型施設にしかない
・軽元素の測定も苦とならない
・透明試料以外も測定可
小角光散乱波長領域

大塚電子の会員サイト

「大塚電子会員サイト」では、様々なサービスをご利用いただけます。
皆様の専門知識の向上と実務のサポートを目指して、今後も様々なコンテンツを提供してまいります。
詳しくはこちら

会員サイトの主な機能

  • 製品カタログ・技術資料・
    ダウンロード

  • Webセミナーや製品紹介など
    会員限定動画が更新中

  • 技術相談や測定支援・受託分析
    予約受付

ページTOPへ

検索