原理
光学系概略図
Hv散乱
クロスニコル(偏光子と検光子が直交)で測定をします。
散乱体に光学異方性(複屈折)がある場合、散乱パターンが出現し、高分子の 高次構造体のサイズ、秩序性、配向の評価ができます。
(測定例)結晶性フィルムの球晶径の解析
結晶性高分子で球晶構造を生成している時は、クローバー型のHv散乱像が得られます。
散乱角度は方位角45°で最大となり、横軸に散乱ベクトル(q)、縦軸に散乱強度(Is)をプロットすると、散乱強度が最大となる測定角度θmaxを有する散乱プロファイルが得られます。
このθmaxを用いて、右の式から球晶半径を求めることができます。
Vv散乱
パラレルニコル(偏光子と検光子が平行)で測定します。
・ポリマーブレンドの相分離過程の評価
・海島構造の大きさ(相関長)
・粒子径の評価※ など
※ 海島構造の島部分の体積分率が必要
(測定例)相分離構造の相関長の解析
海島構造のように、不規則な構造を有している時は円型状のVv散乱像が得られます。
サンプルの相関長 ξ は、Debye-Bueche plot (横軸にq 2、縦軸にIs-1/2をプロットしたグラフ)を用いて、求めることができます。
解析は以下の理論式に基づいており、指定した範囲で線形近似した直線の傾きをa、切片をbとすると、相関長は右の式から求めることができます。
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