概要

CMPスラリーの分散性(ELSZ-2000ZS)

【ELSZneo ゼータ電位・粒径・分子量測定システム】

研磨時に使用するCMPスラリー内の粒子にムラ*があると研磨の効果にバラつきが生じます。液体中の分散、凝集状態は液体中の粒子の粒子径、ゼータ電位を測定することで判断することができます。
*液体中にムラがある状態を “凝集” といいます。またムラが無い状態を “分散” といいます。

インゴット製造/ウェーハ作製/洗浄

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