はじめに

ディスプレイなどの光源から出るすべての光束が全光束です。図1にその概念を示す。光源の全光束は、その光源の出力(lm)だけでなく、ランプ効率(lm/W)を求める上で重要な性能です。この光源の全光束を求める手段として、光源から全空間へ発散する光束を、光源を中心とする空間の球面上のあらゆる位置で測定して積分する方法(配光法) 1) が基本ですが、これはかなり大規模な装置とそれを入れる暗室が必要となります。

図1 光源の全光束の概念 図1 光源の全光束の概念

また、全空間を分割して逐次測定するために測定時間が長くなり、この間の光源の安定点灯が要求されます。
このため、一般には中空の球の内面に硫酸バリウム粉末などの白色拡散性の塗装を施して、中心で光源を点灯するようにした積分球(球形光束計) 2) を使用します。

積分球はその内壁面照度が全光束に比例することから、一カ所の壁面照度を測定すればよく、かつ積分球が閉空間をなすため暗室を必要としないという利点がありますが、積分球内に光源を点灯する治具などの内部構造物の影が測定誤差要因となります。
図2は、実際の積分球の構造例です。積分球の測定は、全光束の値付けされた全光束標準電球との比較測定で行います。全光束標準電球は、JCSS認定事業機関により校正されたものを用います。

図2 積分球(球形光束計)の構造例 図2 積分球(球形光束計)の構造例
参考文献
1)
蔀 洋司・斉藤 一郎:「配光測定に基づく全光束絶対校正装置の開発」、
光アライアンス、15-3、pp.1-7 (2004)
2)
大久保 和明:「積分球を用いた光測定方法」、
照明学会誌、94-2、p.141-148 (2010)

積分球の構造と原理

測定する光源の配光分布が、電球のように全方向の空間(4π空間)に分布する光源は、一般的に積分球の中心に試料光源を点灯して測定します。図3に、その光学モデルを示します。
半径γの積分球の中心に光源があり、その光源から角度α方向の積分球壁面上の微小面Aに光度で照明されたとします。このとき、積分球壁面Aの照度は、次式で表されます。

・・・(2.1)

積分球内壁が反射率ρ(視感反射率)で均等拡散反射し、壁面上の微小面Aが面積dSであるとすれば、微小面Aより反射される光束φaは次式で表されます。

・・・(2.2)

図3 積分球中心に光源を点灯した場合の光学モデル 図3 積分球中心に光源を点灯した場合の光学モデル

面Aの法線に対して角度θの方向の積分球壁面上の微小面をBとします。
面Aより面B方向の光度I0(θ)は面Aが均等拡散反射面とすれば次式で表されます。

・・・(2.3)

面Bは積分球内壁上の面であるから、面BへのIa(θ)の入射角はθであり、面Aと面Bとの距離はであるから、面B上の光度Ia(θ)による照度は次式で表されます。

・・・(2.4)

式(2.4)より明らかなように、面Aからの反射光は面Aからの出射角θによらず、積分球内壁のどの部分に対しても均一の照度で照明される。積分球壁面を反射した光は積分球壁面間を繰り返し反射し、面Aの照度は次式で表されます。

・・・(2.5)

従って図2に示すように、積分球内壁に、その照度を測定する受光器を設け、光源と受光器の間に光源からの直接光であるを遮断する遮光板を設けることにより、 (2.5) 式のの項が消去されて、光源の全光束φに比例した受光器出力が得られます。
このことから、全光束の値が付けられた全光束標準光源と、試料光源を同一の積分球で比較測定することにより、試料光源の全光束を求めることができます。
実際には、光源やこれを点灯する光源点灯治具、遮光板等が大きさを持つため、積分球には図4に示すような誤差要因が存在します。

図4 積分球で全光束を測定する場合の誤差要因 図4 積分球で全光束を測定する場合の誤差要因

これらの誤差要因のうち、〔1〕は光源自身が影を作る光源の自己吸収で、積分球に付属の補助光源で補正することが可能です 3) 。
〔2〕は遮光板によって生ずる影や反射で、積分球を設計する際、最小化を目指す。
〔3〕は、光源を支持する光源点灯治具の自己吸収や反射で、全光束標準電球と試料光源の配光が異なる場合に大きな測定誤差を生ずる。
この光源点灯治具に起因する誤差を解消する方法として、積分半球4) を紹介します。

参考文献
3)
IESNA規格LM-79-2008
(Electrical and Photometric Measurements of Solid-State Lighting Products)
4)
大久保・三島・大嶋:「積分半球を用いた光源の全光束測定」、
照明学会誌、94-8A、p.1-7 (2010)

積分半球の構造と原理

図5 積分半球の構造 図5 積分半球の構造
図6 半球と鏡面の虚像により構成された積分球光学モデル 図6 半球と鏡面の虚像により構成された積分球光学モデル

積分半球は,図5に示すように、内面に測定しようとする放射を完全拡散反射する硫酸バリウム等の拡散材料を塗布または加工した積分半球と、平面ミラーで構成された光束計であり、平面ミラー(表面鏡)の面上で、かつ積分半球の曲率中心の位置に、その全光束を測定しようとする光源を装着します。

このとき半球と表面鏡による半球の虚像により、図6に示すような光学的に積分球が構成されます。
図7は実際の積分半球(直径1m)の外観です。

図8はミラー中央に装着した光源の写真である。同図では、光源の下に光源の虚像が写っており、測定時には光源と光源の虚像が、積分空間に支持物なしで浮いているのと同じ状態となり、光源点灯治具は積分空間に存在せず、したがって、それによる誤差要因も排除できます。

また、LED光源のように点灯回路や冷却用のヒートシンクが発光部のすぐそばに設置する必要がある場合も、ミラーの外側にこれらの物を設置することで、積分空間の外側に排除でき、測定に影響を与えません。

また、ディスプレイ等の平面光源のように、その配光が片側の2π空間しかない光源でも、ミラーによる光源の虚像の配光との合成により4π空間の配光を持つため、積分球全体を使った測定となり、誤差が少くなります。

図7 直径1mの積分半球の外観 図7 直径1mの積分半球の外観
図8 積分半球のミラー側から見た光源 図8 積分半球のミラー側から見た光源

この積分半球の原理を図9で説明します。光源から光束φで積分球内壁面Sへ照明した光が、積分球内壁面Aを照明する場合、面Sから直接面Aを照明する場合と、面Sから虚像の面A’に向かい、ミラーで反射して面Aを照明する場合の二通りがあります。

図9 積分半球の平面モデル 図9 積分半球の平面モデル

面Sから直接、面Aを照明した場合の面Aの照度は次式で表されます。

・・・(3.1)

ここでγは積分半球の半径、ρは積分球内壁の拡散反射率です。
次に、面Sから虚像の面A’に向かい、ミラーで反射して面Aを照明した場合の照度は次式で表されます。
はミラーの反射率です。

・・・(3.2)

従って、面Sからの光に対する面Aの照度は次式で示されます。

・・・(3.3)

積分球内壁の繰り返し反射による面Aの照度は次式で示されます。

・・・(3.4)

照度は、の場合、同じ半径の積分球の倍の明るさであることがわかります。

積分半球に使用するミラー

積分半球に用いる平面ミラーの一例として、アルミニウムの基材表面に高純度アルミニウムの真空蒸着を施し、さらに透明な酸化膜を蒸着して可視波長域で増反射処理を行った高反射処理アルミをご紹介します。

図10にその分光反射率を示します。測定は落射光学系を持つ大塚電子製 「反射分光膜厚計 FE-3000」による0°入射、0°出射の値です。

比較のために光学用のアルミ蒸着ミラー(保護膜なし)を測定した。この結果、アルミ蒸着ミラーの反射率は90%未満であるのに対して、高反射処理アルミは、420nm以下で反射率が90%以下となるものの、それ以上の可視波長域では95%程度と高い値を示します。

拡散反射コーティングは硫酸バリウムを主材料とするLabsphere社製 「Spectraflect-coating」を用いました。図11に、半球内壁の拡散反射コーティングの分光反射率を示します。

図10 積分半球に使用するミラーの分光反射率
図11 積分半球に使用する拡散反射コーティングの分光反射率

左:図10 積分半球に使用するミラーの分光反射率
右:図11 積分半球に使用する拡散反射コーティングの分光反射率

積分半球の光源点灯治具に起因する誤差を解消

積分半球の光源点灯治具に起因する誤差解消を確認するため、直径2mの積分球(LMS-760)と直径1mの積分球(LMS-400)との測定値比較を直径1mの積分半球(HM-400)に対して行いました。

光源は配光が全光束標準電球に近いLED電球Aと、配光が標準電球と大きく異なり、2π空間に集中した配光を持つLED電球Bを用いました。結果を図12に示します。

図12 積分半球と積分球の全光束測定値比較 図12 積分半球と積分球の全光束測定値比較

「LMS-760」と「LMS-400」は同じ40mmφの支柱を持つ光源点灯台を持つため、点灯台の表面積に対して内壁面積が4倍の「LMS-760」は、点灯台の影響は小さくなります。このため「LMS-400」との測定値に差が生じています。
これは、配光が全光束標準電球と大きく異なるLED電球Bの測定値に顕著に表れていることからも、光源点灯台に起因するものと考えられます。
これに対して光源点灯台を持たない積分半球(HM-400)は「LMS-760」と同等の精度が得られ、1mの積分半球でも、全光束標準電球と異なる配光の光源の測定に対して十分な精度が期待できます。

まとめ

ディスプレイやそのバックライト等の面光源の全光束を測定する場合、従来は積分球の壁面点灯による測定が理想 3)とされていたが、壁面点灯用の全光束標準光源の整備が遅れ、精度が得られる測定は困難でした。
今回紹介した積分半球は、4π空間に配光を持つ従来の全光束標準電球を使用して、2π配光の面光源を測定できる利点もあり、ディスプレイ関連光源の評価に適するものと考えています。

参考文献
3)
IESNA規格LM-79-2008
(Electrical and Photometric Measurements of Solid-State Lighting Products)

(「月刊ディスプレイ」'11 12月号掲載 2012/2)