分光全放射束測定システム HM series

  • 光源の点灯姿勢が変更できるため、実使用条件下での測定が可能
  • 発光部以外を積分空間より排除、吸収誤差を解消
  • 積分空間の半減で明るさ(感度)が2倍
  • 補面発光光源の全光束測定に最適
  • 発光面以外を積分半球の外に配置できるため、サンプルの温調が容易
    (高出力光源にも対応)
  • サンプル光源自身の影の影響を排除できるため、大型サンプルに最適
    (積分球直径の1/3まで対応)

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