イベント概要
| 名称 | |
|---|---|
| 日程 |
2026年9月2日（水）～4日（金） |
| 場所 |
幕張メッセ |
| 来場登録 | |
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主催 |
セミナー・展示会・学会
JASIS 2026
2026年9月2日（水）から4日（金）まで、幕張メッセで「JASIS 2026」が開催されます。 大塚電子ではゼータ電位・粒子径・分子量測定システム ELSZneo、光波動場三次元顕微鏡 MINUKをはじめ、各種製品を展示します。 ぜひ弊社ブースにて実機をお近くでご覧ください。 皆様のご来場をお待ちしております。
出展ブース
6ホール 6A-201
出展製品
粒子径＋ゼータ電位で分散・凝集状態がわかる
粒子径＋ゼータ電位で分散・凝集状態がわかる
ELSZseriesの最上位機種で希薄溶液～濃厚溶液でのゼータ電位･粒子径測定、分子量測定を可能にした装置です。新しい機能として高分解能を実現した多角度測定、粒子濃度測定やマイクロレオロジー測定、ゲルの網目構造解析が可能です。
従来の顕微鏡を超える性能と全く新しい観察・測定法を提供
従来の顕微鏡を超える性能と全く新しい観察・測定法を提供
光波動場三次元顕微鏡を使用することで、目視では見えない透明フィルムの透明な傷や異物を観察することが可能です。また深さ方向のスキャンなしで3次元形状を測定できます。後から表面の傷か内部にある傷かがわかります。
非接触・非破壊・高精度・高速に膜厚測定
非接触・非破壊・高精度・高速に膜厚測定
半導体材料やフイルム、光学材料などの基材から多層コート膜の厚みを非破壊・非接触で高速に測定します。最小3μmの微小領域を測定可能です。絶対反射率スペクトルにより材質の持つ光学定数の解析も可能です。
高精度で持ち運び可能な膜厚計
高精度で持ち運び可能な膜厚計
ハンディタイプで現場に直接持ち込め、誰でも簡単に高精度の測定が可能です。さらに、形状があるサンプルでも非破壊で測定できます。
nanoSAQLAで粒子径測定を自動化
nanoSAQLAで粒子径測定を自動化
「高機能」と「使いやすさ」を両立。品質管理のニーズを更に追求した機能を各種搭載。希薄～濃厚系まで広濃度範囲で多検体測定対応した新光学系、1サンプル1分の高速測定が可能です。またオートサンプラを接続することで50検体連続測定も可能です。
小角光散乱法で高分子相構造を解析
小角光散乱法で高分子相構造を解析
結晶性高分子の結晶化評価や高分子材料のスピノーダル分解過程の相転移温度や相関長評価、機能性フィルムの内部構造評価をリアルタイムに定量化が可能です。
PCRからキャピラリー電気泳動までシームレス！
PCRからキャピラリー電気泳動までシームレス！
PCRとキャピラリー電気泳動（CE）を1台に統合することで、面倒なサンプル移し替えが不要です。必要に応じて自在に各機能を選択することも可能です。電気泳動のリアルタイム表示や擬似ゲルビューで直感的に解析でき、レポート出力やゲル調整も不要なため、効率的で信頼性の高い解析をサポートします。
複雑な前処理なしで定性・定量分析
複雑な前処理なしで定性・定量分析
陰イオン、陽イオン、有機酸、アミノ酸、糖などの異なる成分を一斉に分析できます。また複雑な前処理なしで微量サンプルを短時間・高分解能な分析が可能です。
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