セミナー・展示会・学会
nanotech 2025
2025年1月29日（水）から1月31日（金）まで、東京ビッグサイトで「nanotech 2025」が開催されます。
大塚電子ではゼータ電位・粒子径・分子量測定システム ELSZneo seriesをはじめ、光波動場三次元顕微鏡 MINUK、新製品のスマート膜厚計 SM-100seriesを展示します。
ぜひ弊社ブースにて実機をお近くでご覧ください。
皆様のご来場をお待ちしております。
出展ブース
東4ホール 4F-19
出展製品
粒子径・ゼータ電位で物性評価の
新たなステージへ
粒子径・ゼータ電位で物性評価の
新たなステージへ
ELSZseriesの最上位機種で希薄溶液～濃厚溶液でのゼータ電位･粒子径測定に加え、分子量測定を可能にした装置です。さらに新しい機能として粒度分布の分離能を向上させるため多角度測定を採用、粒子濃度測定やマイクロレオロジー測定、ゲルの網目構造解析も可能にしました。
nanoSAQLAで粒子径測定を自動化
nanoSAQLAで粒子径測定を自動化
品質管理のニーズを更に追求した機能を搭載した動的光散乱法による粒子径測定装置（0.6nm～10μm）です。希薄系から濃厚系(0.00001～40%)までの広濃度範囲に対応しています。
従来の顕微鏡を超える性能と
全く新しい観察・測定法を提供
従来の顕微鏡を超える性能と
全く新しい観察・測定法を提供
光波動場三次元顕微鏡を使用することで、目視では見えない透明フィルムの透明な傷や異物を観察することが可能です。また深さ方向のスキャンなしで3次元形状を測定できます。後から表面の傷か内部にある傷かがわかります。
非破壊・非接触・顕微で
高速・高精度に薄膜を計測
非破壊・非接触・顕微で
高速・高精度に薄膜を計測
半導体材料やフィルム、光学材料などの基材から多層コート膜の厚みを非破壊・非接触で高速に測定します。３μmの微小領域測定が可能で、絶対反射率、光学定数測定も可能です。また光学定数解析が可能な楽々解析ウィザードを搭載しています。
高精度で持ち運び可能な膜厚計
高精度で持ち運び可能な膜厚計
非破壊・非接触に対応し誰でも簡単に扱えるハンディタイプの膜厚計です。
光干渉法を原理とし高精度で最薄0.1μm、また最大3層まで検量線不要で膜厚測定が可能な装置です。
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