nanotech 2023

粒子径・ゼータ電位で物性評価の
新たなステージへ

ELSZseriesの最上位機種で希薄溶液～濃厚溶液でのゼータ電位･粒子径測定に加え、分子量測定を可能にした装置です。さらに新しい機能として粒度分布の分離能を向上させるため多角度測定を採用、粒子濃度測定やマイクロレオロジー測定、ゲルの網目構造解析も可能にしました。

ELSZneoシリーズの最新機種のご案内も予定しております。

ナノ粒子を5検体連続で測定可能

品質管理のニーズを更に追求した機能を搭載した動的光散乱法による粒子径測定装置（0.6nm～10μm）です。希薄系から濃厚系(0.00001～40%)までの広濃度範囲に対応しています。

結晶化温度・速度・球晶径を
リアルタイムで評価

小角光散乱法を用いて、高分子やフィルムの構造をリアルタイムに解析できる装置です。可視光を使用している為、X線や中性子線を用いた装置と比べて、より大きな構造(μmオーダー)の評価が可能です。

非破壊・非接触・顕微で
高速・高精度に薄膜を計測

半導体材料やフィルム、光学材料などの基材から多層コート膜の厚みを非破壊・非接触で高速に測定します。３μmの微小領域測定が可能で、絶対反射率、光学定数測定も可能です。また光学定数解析が可能な楽々解析ウィザードを搭載しています。