イベント概要
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名称 |
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日程 |
2022年1月26日（水）～28日（金） |
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場所 |
東京ビッグサイト |
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参加費 |
無料 |
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主催 |
nanotech実行委員会 |
セミナー・展示会・学会
nanotech 2022
無事終了いたしました。
多数のご参加を頂き、誠にありがとうございました。
2022年1月26日（水）から28日（金）まで、東京ビッグサイトで「nanotech 2022」が開催されます。
大塚電子では、新製品の「ゼータ電位・粒子径・分子量測定システム ELSZneo」をはじめ各種装置を展示いたします。
新型コロナウィルス対策をしっかりおこなっていますので、ぜひ弊社ブースにて実機をお近くでご覧ください。
皆様のご来場をお待ちしております。
出展ブース
東2ホール 2U-02
出展製品
粒子径・ゼータ電位で物性評価の
新たなステージへ
粒子径・ゼータ電位で物性評価の
新たなステージへ
ELSZseriesの最上位機種で希薄溶液～濃厚溶液でのゼータ電位･粒子径測定に加え、分子量測定を可能にした装置です。さらに新しい機能として粒度分布の分離能を向上させるため多角度測定を採用、粒子濃度測定やマイクロレオロジー測定、ゲルの網目構造解析も可能にしました。
粒子径+ゼータ電位で
分散・凝集状態がわかる
粒子径+ゼータ電位で
分散・凝集状態がわかる
ナノ粒子の分散・凝集・相互作用、表面改質の指標となるゼータ電位および粒子径・粒子径分布、分子量を測定することが可能です。またpＨに対する粒子径・ゼータ電位変化を自動で測定することが可能です。
ナノ粒子を最大５０検体連続で測定可能
ナノ粒子を最大５０検体連続で測定可能
品質管理のニーズを更に追求した機能を搭載した動的光散乱法による粒子径測定装置（0.6nm～10μm）です。希薄系から濃厚系(0.00001～40%)までの広濃度範囲に対応しています。
非破壊・非接触・顕微で
高速・高精度に薄膜を計測
非破壊・非接触・顕微で
高速・高精度に薄膜を計測
半導体材料やフィルム、光学材料などの基材から多層コート膜の厚みを非破壊・非接触で高速に測定します。３μmの微小領域測定が可能で、絶対反射率、光学定数測定も可能です。また光学定数解析が可能な楽々解析ウィザードを搭載しています。
大塚電子の会員サイト
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皆様の専門知識の向上と実務のサポートを目指して、今後も様々なコンテンツを提供してまいります。
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