Close
膜厚測定システム FE-3700/5700
|
|
進化しつづけるFPDの製造工程で各種薄膜を評価･分析
※資料ダウンロードには会員登録が必要です |
|
- 製品情報
製品情報
特 長
さまざまなガラス基板上の各種薄膜の膜厚や光学定数を、高速かつ高精度に測定できます。次世代サイズを含む大型ガラス基板に対応するほか、LCD、TFT、や有機ELにも対応します。
用 途
- LCD
ITO/Glass、PI/OC/Glass、CF/Glass、Resist/Glass - TFT
SiN/a-Si/Glass - 有機EL
有機EL/ITO/Glass - PDP
誘電体層/Glass
- 製品情報
関連情報
関連製品
|
|
分光エリプソメータ FE-5000/5000S |
|
|
カラーフィルタ分光特性測定装置 LCF series |
|
|
セルギャップ検査装置 RETS series |
|
|
LCD評価装置（パネル・モジュール検査） LCD series |
|
|
高感度分光放射輝度計 HS-1000 |
|
|
マルチチャンネル分光器 MCPD-9800/6800 |
|
|
分光配光測定システム GP series |
ホーム
